テストパターン生産装置、故障検出システム、テストパターン生産方法、プログラム及び記録媒体
| 国内特許コード | P150012546 |
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| 整理番号 | J1011-03WO |
| 掲載日 | 2015年11月19日 |
| 出願番号 | 特願2013-553292 |
| 登録番号 | 特許第5988443号 |
| 出願日 | 平成25年1月9日(2013.1.9) |
| 登録日 | 平成28年8月19日(2016.8.19) |
| 国際出願番号 | JP2013050150 |
| 国際公開番号 | WO2013105564 |
| 国際出願日 | 平成25年1月9日(2013.1.9) |
| 国際公開日 | 平成25年7月18日(2013.7.18) |
| 優先権データ |
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| 発明者 |
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| 出願人 |
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| 発明の名称 |
テストパターン生産装置、故障検出システム、テストパターン生産方法、プログラム及び記録媒体
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| 発明の概要 |
オリジナルのテストパターンの特性維持を図りつつ新たなテストパターンを生産することを可能とする、テストパターン生産装置等を提供する。 スキャンテストのテスト対象回路に入力されるテストパターンを生産するテストパターン生産装置であって、与えられた第１ビット、第２ビット及び第３ビットの論理値を参照して、第２ビットの論理値を維持又は反転することにより、新たな論理値を生成する論理値生成手段を備え、第１ビットの論理値は、与えられたテストパターンである初期テストパターンが有するものであるか、又は、初期テストパターンに基づいてテストパターン生産装置が生産した新たなテストパターンが有するものであり、第２ビットの論理値は、初期テストパターンが有するものであり、第３ビットの論理値は、初期テストパターンが有するものであるか、又は、新たなテストパターンが有する、テストパターン生産装置。 |
| 従来技術、競合技術の概要 |
論理回路をテストするためのテストパターンのデータ量を削減するテスト手法として、埋め込み自己テスト（Built-In Self-Test：BIST）の手法が知られている。ＢＩＳＴにおいては、テストパターンを記憶する容量の制限等の理由により、オリジナルのテストパターンから新たなテストパターンを生産するテストパターン生産装置が用いられる。ここで、生成されるテストパターンにおける故障検出率の向上とテスト時のシフトパワー削減とは、一般にトレードオフの関係にある。これまで、故障検出率の向上とシフトパワー削減の調整を図るテストパターン生産装置等が開発されてきた（非特許文献１）。 非特許文献１に記載されたテストパターン生産装置の回路の概略を示す論理回路を図１６に示す。非特許文献１に記載されたテストパターン生産装置は、直前に生産したテストベクトルをテスト対象回路に入力した場合のキャプチャ出力値から新たな論理値を生成する。まず、直前に生産したテストベクトルをテスト対象回路に入力した場合のキャプチャ出力値から最後の２ビットを抽出する。抽出されたビットの論理値が異なれば、スキャンチェーンに入力された値を変更せずにシフトインする。抽出されたビットの論理値が同じであれば、新たな論理値をシフトインする。このように、直前に生産されたテストベクトルをテスト対象回路に入力した場合のキャプチャ出力値の最後の２ビットの異同を参照して、ＬＦＳＲから出力される値をそのままシフトインするか反転させた上でシフトインするものである。 |
| 産業上の利用分野 |
本発明は、テストパターン生産装置、故障検出システム、テストパターン生産方法、プログラム及び記録媒体に関し、特に、テスト対象回路に入力されるテストパターンを生産するテストパターン生産装置等に関する。 |
| 特許請求の範囲 |
【請求項1】 スキャンテストのテスト対象回路に入力されるテストパターンを生産するテストパターン生産装置であって、 与えられた第１ビット、第２ビット及び第３ビットの論理値を参照して、前記第２ビットの論理値を維持又は反転することにより、新たな論理値を生成する論理値生成手段を備え、 前記第１ビットの論理値は、与えられたテストパターンである初期テストパターンが有するものであるか、又は、前記初期テストパターンに基づいて当該テストパターン生産装置が生産した新たなテストパターンが有するものであり、 前記第２ビットの論理値は、前記初期テストパターンが有するものであり、 前記第３ビットの論理値は、前記初期テストパターンが有するものであるか、又は、前記新たなテストパターンが有するものである、テストパターン生産装置。 【請求項2】 前記論理値生成手段により生成された論理値を保持する保持手段をさらに備え、 前記第１ビットの論理値は、予め、前記論理値生成手段により生成されて前記保持手段に保持されたものであり、 前記論理値生成手段は、前記保持手段に保持された前記第１ビットの論理値、前記第２ビットの論理値及び前記第３ビットの論理値に基づいて、前記第２ビットの論理値を維持又は反転して、新たに生成するテストパターンに含まれるビットの論理値とする、請求項１記載のテストパターン生産装置。 【請求項3】 前記第１ビット、前記第２ビット及び前記第３ビットは、空間的に隣接する複数のスキャンチェーンに入力されるビットであり、又は、時間的に連続して同一のスキャンチェーンを介して前記テスト対象回路に入力されるビットであり、 前記保持手段は、スキャンフリップフロップである、請求項２記載のテストパターン生産装置。 【請求項4】 前記論理値生成手段は、 論理値を出力する複数の異なる組合せ回路と、 前記複数の異なる組合せ回路を切り替える切替手段とを有し、 前記複数の異なる組合せ回路の一つは、前記第１ビット、前記第２ビット及び前記第３ビットが有する０又は１の論理値を入力とする、請求項１から３のいずれかに記載のテストパターン生産装置。 【請求項5】 前記初期テストパターン又は／及び当該テストパターン生産装置が生産したテストパターンにおける論理値から、前記第１ビット、前記第２ビット及び前記第３ビットを含めて一部又は全部を抽出する抽出手段と、 前記抽出手段が抽出した論理値についての空間的隣接性及び／又は時間的連続性に沿った反転回数が所定の回数に達するか否かを判定する条件判定手段と、 前記条件判定手段による判定結果を前記切替手段にフィードバックするフィードバック手段とをさらに備える、請求項４記載のテストパターン生産装置。 【請求項6】 テスト対象回路の出力に基づいて故障を検出する故障検出システムであって、 請求項１から５のいずれかに記載のテストパターン生産装置が生成したテストパターンを、前記テスト対象回路に入力される初期テスト入力パターンとして記憶する初期テスト入力パターン記憶手段と、 前記初期テスト入力パターンが入力された前記テスト対象回路から出力された複数の出力論理値の一部又は全部を取り出す第１取出手段と、 前記第１取出手段が取り出した出力論理値と、前記テスト対象回路に故障がない場合に予測される出力論理値又は特定の故障がある場合に予測される出力論理値とを比較する比較手段と、 前記比較手段による比較結果に基づいて前記テスト対象回路の故障の有無を判定する故障判定手段とを備え、 前記複数の出力論理値は、 前記テスト対象回路に対して新たなテスト入力パターンとして入力されるものであり、 複数の個別保持手段に論理値を１つずつ保持させる保持手段に保持され、 前記第１取出手段は、 前記保持手段に保持された前記複数の出力論理値の一部又は全部を取り出すものであり、 前記複数の個別保持手段が保持する出力論理値の一部又は全部を、他の個別保持手段を経由することなく直接取り出すことを特徴とする、故障検出システム。 【請求項7】 前記第１取出手段を制御する第１取出制御手段と、 ダミーサイクルの回数を指定するダミーサイクル指定手段とをさらに備え、 前記第１取出制御手段は、前記第１取出手段を制御して、前記ダミーサイクルが指定したキャプチャサイクルの間、前記複数の出力論理値を取り出させない、請求項６記載の故障検出システム。 【請求項8】 スキャンテストのテスト対象回路に入力されるテストパターンを生産するテストパターン生産装置を用いたテストパターン生産方法であって、 与えられたテストパターンである初期テストパターン又は／及び当該初期テストパターンに基づいて当該テストパターン生産装置が生産したテストパターンが有する第１ビット、第２ビット及び第３ビットの各論理値を参照して、前記初期テストパターンが有する前記第２ビットの論理値を維持又は反転することにより、新たな論理値を生成する論理値生成ステップを含む、テストパターン生産方法。 【請求項9】 コンピュータに請求項８記載のテストパターン生産方法を実行させるためのプログラム。 【請求項10】 請求項９に記載されたプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。 |
| 国際特許分類(IPC) |
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| 出願権利状態 | 登録 |
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