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TOOL MARK COLLATION SYSTEM

Patent code P160012717
File No. S2014-0447-N0
Posted date Jan 27, 2016
Application number P2014-095015
Publication number P2015-212650A
Patent number P6366344
Date of filing May 2, 2014
Date of publication of application Nov 26, 2015
Date of registration Jul 13, 2018
Inventor
  • (In Japanese)松原 雅昭
  • (In Japanese)中村 昌義
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人群馬大学
Title TOOL MARK COLLATION SYSTEM
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a tool mark collation system achieving a mechanical collation of a tool mark in real time.
SOLUTION: A tool mark collation processor 103 extracts, for a table to be collated that stores a plurality of tool marks 106 to be collated collected from crime scenes 105, collation YZ abstract data corresponding to cross-sectional shapes of the tool marks, or characteristic parts of the tool marks, from a collation table for storing tool marks formed by a tool 110 that is a collation object. Then, the tool mark collation processor normalizes collation YZ abstract data, whose shapes are difficult to be uniformized. The tool mark collation processor calculates similarity between the collation YZ abstract data and the abstract data to be collated in the table to be collated by similarity calculation processing such as multivariate analysis. Then, the tool marks 106 to be collated are rearranged according to the similarity and displayed on a display part 112.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

空き巣等の刑法犯は、被害者の居宅に侵入する際、市販の工具を用いてドアや窓の鍵をこじ開ける事が多い。工具を用いてドアや窓をこじ開ける際、ドアや窓の、工具が接触した箇所には、ツールマークと呼ばれる、工具痕の一種である擦過痕(引っ掻き傷)が残る場合がある。このツールマークは、人間の指紋と同様に、それぞれの工具に独自のパターンを呈する。したがって、ツールマークを指紋と同様に照合することができれば、犯人特定のために有力な物的証拠となり得る。

なお、本発明の技術分野に近い先行技術文献を特許文献1に示す。特許文献1には、試料表面に意図的なマーキングを施すことなく、高い精度で同一点探索を行うことができる特定部位検出方法の技術内容が開示されている。

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、主に刑法犯罪捜査用途の、犯行現場に残されたツールマークをデータベースに登録し、証拠品のツールマークと照合する、ツールマーク照合システムに関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
ツールマークの三次元形状を数値データとして出力する三次元測定装置と、
前記三次元測定装置が出力する第一のツールマークの三次元データと、前記三次元測定装置が出力する第二のツールマークの三次元データとを正規化して、両者の類似度を算出する照合演算処理部と
前記第一のツールマークの三次元データから断面形状を表す照合断面データを取得する入出力制御部と
を具備し、
前記照合演算処理部は、前記照合断面データと前記第二のツールマークの三次元データとの類似度を算出するものである、
ツールマーク照合システム。

【請求項2】
 
更に、
表示部を備え、
前記入出力制御部は、前記照合演算処理部が算出した前記類似度に応じて、複数の前記第二のツールマークの三次元データを並べ替えて、前記表示部に表示する、
請求項1に記載のツールマーク照合システム。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2014095015thum.jpg
State of application right Registered
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