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(In Japanese)故障検出システム、生成回路及びプログラム meetings

Patent code P160012773
File No. J1011-04WO
Posted date Feb 10, 2016
Application number P2014-516759
Patent number P6223967
Date of filing May 14, 2013
Date of registration Oct 13, 2017
International application number JP2013063393
International publication number WO2013175998
Date of international filing May 14, 2013
Date of international publication Nov 28, 2013
Priority data
  • P2012-117842 (May 23, 2012) JP
Inventor
  • (In Japanese)佐藤 康夫
  • (In Japanese)王 森▲レイ▼
  • (In Japanese)宮瀬 紘平
  • (In Japanese)梶原 誠司
Applicant
  • (In Japanese)国立研究開発法人科学技術振興機構
Title (In Japanese)故障検出システム、生成回路及びプログラム meetings
Abstract (In Japanese)故障検出率を維持しつつ、スキャンアウト時のシフトパワーの削減を図ることを可能とする、故障検出システム等を提供することを目的とする。
スキャンテストにより論理回路の故障を検出する故障検出システムであって、複数のフリップフロップと、キャプチャモードにおける最終キャプチャであることを示す最終信号を生成する最終信号生成手段と、論理回路ともフリップフロップとも異なり、一部のフリップフロップに対して、最終信号を受信した場合に論理値を指定する指定手段と、論理回路からキャプチャされたテスト出力であって指定手段が指定した論理値を含むものと、論理回路が故障していない場合のテスト出力であって指定手段が指定した論理値を含むものとを比較することにより故障検出を行う故障検出装置とを備える、故障検出システムである。
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

スキャンテスト時の消費電力が増大すると、電源電圧が一時的に低下するIRドロップが生じる。このとき、論理回路が誤動作し、誤ったテスト応答値がスキャンフリップフロップに取り込まれることがある。すると、通常時には正常に動作する論理回路がテスト時に不良品と判定されてしまうという誤テストが発生する。その結果、歩留りが低下する。特に、半導体論理回路が超大規模化、超微細化、低電源電圧化した場合、誤テストによる歩留り低下は顕著である。そこで、スキャンテスト時の消費電力を低減することが重要となる。

スキャンテストにおける消費電力は、キャプチャモード時の消費電力(キャプチャパワー)とシフトモード時の消費電力(シフトパワー)に大別される。さらに、シフトパワーは、スキャンインに伴うものとスキャンアウトに伴うものに分けられる。本願の発明者等は、このうち、キャプチャパワーの低減(特許文献1参照)及びスキャンインに伴うシフトパワーの低減(特許文献2参照)を可能とする故障検出システムを開発してきた。

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、故障検出システム、生成回路及びプログラムに関し、特に、スキャンテストにより論理回路の故障を検出する故障検出システム等に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
スキャンテストにより論理回路からキャプチャされたテスト出力と、前記論理回路が故障していない場合のテスト出力とを比較することにより故障検出を行う故障検出装置を備えた故障検出システムであって、
複数のフリップフロップを使用するスキャンテストで複数回のキャプチャを行うマルチキャプチャにおいて、
前記同一のキャプチャモードにおける最終キャプチャであることを示す最終信号を、前記キャプチャモードにおける前記最終キャプチャの1つ前のキャプチャが終了した後に生成する最終信号生成手段と、
前記最終信号を受信した場合に、最終キャプチャでキャプチャされた論理値と当該最終キャプチャの直前にキャプチャされた論理値とが同一であるフリップフロップからのみ前記論理値を指定する対象となるフリップフロップを選択する選択手段と、
前記選択手段により選択されたフリップフロップの論理値を最終キャプチャのスキャンアウト前に指定する指定手段と
前記論理回路からキャプチャされたテスト出力であって前記指定手段が指定した論理値を含むものと、前記論理回路が故障していない場合のテスト出力であって前記指定手段が指定した論理値を含むものとを比較することにより故障検出を行う故障検出装置とを備え、
前記指定手段が前記選択されたフリップフロップの論理値を変更することにより、故障検出率を維持しつつスキャンアウト時のシフトパワーの削減を図り、
前記選択手段は、同一スキャンチェーンから複数のフリップフロップを選択する場合には隣接しないフリップフロップから選択し、
前記指定手段は、同一スキャンチェーン内で前記選択されたフリップフロップに隣接するフリップフロップの論理値を指定する、故障検出システム。

【請求項2】
 
前記選択手段は、スキャンチェーンのスキャンイン側に近いフリップフロップを優先的に選択する請求項1記載の故障検出システム。

【請求項3】
 
スキャンテストにより論理回路からキャプチャされたテスト出力と、前記論理回路が故障していない場合のテスト出力とを比較することにより故障検出を行う故障検出回路であって、
複数のフリップフロップを使用するスキャンテストで複数回のキャプチャを行うマルチキャプチャにおいて、
前記同一のキャプチャモードにおける最終キャプチャであることを示す最終信号を、前記キャプチャモードにおける前記最終キャプチャの1つ前のキャプチャが終了した後に生成する最終信号生成手段と、
前記最終信号を受信した場合に、最終キャプチャでキャプチャされた論理値と当該最終キャプチャの直前にキャプチャされた論理値とが同一であるフリップフロップからのみ前記論理値を指定する対象となるフリップフロップを選択する選択回路と、
前記選択手段により選択されたフリップフロップの論理値を最終キャプチャのスキャンアウト前に指定する指定回路を備え、
前記指定回路が前記選択されたフリップフロップの論理値を変更することにより、故障検出率を維持しつつスキャンアウト時のシフトパワーの削減を図り、
前記選択手段は、同一スキャンチェーンから複数のフリップフロップを選択する場合には隣接しないフリップフロップから選択し、
前記指定手段は、同一スキャンチェーン内で前記選択されたフリップフロップに隣接するフリップフロップの論理値を指定し、
前記論理回路からキャプチャされたテスト出力であって前記指定手段が指定した論理値を含むものと、前記論理回路が故障していない場合のテスト出力であって前記指定手段が指定した論理値を含むものとを比較することにより故障検出を行う、故障検出回路。

【請求項4】
 
スキャンテストにより論理回路からキャプチャされたテスト出力と、前記論理回路が故障していない場合のテスト出力とを比較することにより故障検出を行う故障検出システムにおける故障検出方法であって、
複数のフリップフロップを使用するスキャンテストで複数回のキャプチャを行うマルチキャプチャにおいて、
最終信号生成手段が、前記同一のキャプチャモードにおける最終キャプチャであることを示す最終信号を、前記キャプチャモードにおける前記最終キャプチャの1つ前のキャプチャが終了した後に生成するステップと、
選択手段が、前記最終信号を受信した場合に、最終キャプチャでキャプチャされた論理値と当該最終キャプチャの直前にキャプチャされた論理値とが同一であるフリップフロップからのみ前記論理値を指定する対象となるフリップフロップを選択する選択ステップと、
指定手段が、前記選択手段により選択されたフリップフロップの論理値を最終キャプチャのスキャンアウト前に指定する指定ステップと
故障検出装置が、前記論理回路からキャプチャされたテスト出力であって前記指定手段が指定した論理値を含むものと、前記論理回路が故障していない場合のテスト出力であって前記指定手段が指定した論理値を含むものとを比較することにより故障検出を行うステップとを含み、
前記指定手段が前記選択されたフリップフロップの論理値を変更することにより、故障検出率を維持しつつスキャンアウト時のシフトパワーの削減を図り、
前記選択手段が、同一スキャンチェーンから複数のフリップフロップを選択する場合には隣接しないフリップフロップから選択し、
前記指定手段が、同一スキャンチェーン内で前記選択されたフリップフロップに隣接するフリップフロップの論理値を指定する、故障検出方法。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2014516759thum.jpg
State of application right Registered
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