Top > Search of Japanese Patents > (In Japanese)分光特性測定装置

(In Japanese)分光特性測定装置

Patent code P160013433
File No. (S2012-0740-N0)
Posted date Nov 2, 2016
Application number P2014-539680
Patent number P5765693
Date of filing Sep 25, 2013
Date of registration Jun 26, 2015
International application number JP2013075904
International publication number WO2014054488
Date of international filing Sep 25, 2013
Date of international publication Apr 10, 2014
Priority data
  • P2012-219760 (Oct 1, 2012) JP
Inventor
  • (In Japanese)石丸 伊知郎
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人香川大学
Title (In Japanese)分光特性測定装置
Abstract (In Japanese)本発明に係る分光特性測定装置は、被測定物の内部の複数の測定点から発せられた測定光を固定反射部の反射面と可動反射部の反射面に入射させる入射光学系と、固定反射部の反射面で反射された固定反射測定光と可動反射部の反射面で反射された可動反射測定光を同一点に導いて両反射測定光の干渉光を形成する結像光学系と、干渉光の強度を検出するための複数の画素を有する光検出部と、結像光学系と光検出部の間の光路に配置された透過率が異なる複数の領域を有するフィルタであって、光検出部の各画素に入射する干渉光を形成する固定反射測定光と可動反射測定光が同じ領域を透過するように構成された透過フィルタと、可動反射部を移動させたときの光検出部の各画素の検出信号から測定光のインターフェログラムを求め、このインターフェログラムに基づき測定光のスペクトルを求める演算処理部とを備える。
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

糖尿病や高脂血症等、さまざまな病気において、血液に含まれるグルコース(血糖)やコレステロール等の生体成分の管理はその予防及び治療のために重要である。しかしながら、血液中の生体成分を測定するためには、通常、微量ながら血液を採取しなければならず、苦痛を伴う。また、採血部位の消毒や消耗品の処理などの煩わしい作業が必要であるため、例えば予防目的で生体成分を測定するための採血を日常的に行うことは敬遠される。

これに対して、血液を採取せずに生体成分を測定する非侵襲の測定装置が提案されている(特許文献1参照)。この測定装置では、生体の被検部位に光を照射し、それにより該被検部位の内部の生体成分から発せられる光(物体光)の分光特性から生体成分を求める。具体的には、生体成分を光学的に構成する各輝点から生じる透過光や拡散・散乱光等の物体光を、対物レンズを介して位相シフタである固定ミラー部と可動ミラー部に導き、これら2つのミラー部から反射される物体光束を結像面において干渉させる。可動ミラー部はピエゾ素子などにより移動されるようになっており、該可動ミラー部の移動量に応じた位相差が固定ミラー部と可動ミラー部から反射される物体光束に付与され、それに伴い干渉光の強度が変化して、いわゆるインターフェログラムを形成する。このインターフェログラムをフーリエ変換することにより物体光の分光特性(スペクトル)を取得する。

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、分光特性測定装置に関し、特には、血糖や血中コレステロール等の生体成分を非侵襲で測定することができる分光特性測定装置に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
a)固定反射部と、
b)該固定反射部の反射面と平行な反射面を有し、前記固定反射部の反射面に対して垂直方向に移動可能な可動反射部と、
c)被測定物の内部の複数の測定点から発せられた測定光を前記固定反射部の反射面と前記可動反射部の反射面に入射させる入射光学系と、
d)前記固定反射部の反射面で反射された固定反射測定光と前記可動反射部の反射面で反射された可動反射測定光を同一点に導いて両反射測定光の干渉光を形成する結像光学系と、
e)前記干渉光の強度を検出するための複数の画素を有する光検出部と、
f)前記結像光学系と前記光検出部の間の光路に配置された透過率が異なる複数の領域を有するフィルタであって、前記複数の測定点から発せられた該複数の測定光は前記複数の領域のうちの2つ以上の領域に分かれて透過した後、前記複数の画素のいずれかに入射し、各画素に入射する干渉光を形成する固定反射測定光と可動反射測定光が同じ領域を透過するように構成された減光フィルタと、
g)前記可動反射部を移動させたときの前記光検出部の各画素の検出信号から前記測定光のインターフェログラムを前記2つ以上の領域にそれぞれ対応する透過率で求め、このインターフェログラムに基づき測定光のスペクトルを求める演算処理部と
を備えることを特徴とする分光特性測定装置。

【請求項2】
 
さらに、
前記光検出部の各画素に入射する干渉光を形成する固定反射測定光と可動反射測定光が透過した前記減光フィルタの領域の透過率に基づき、該画素の検出信号から求められるインターフェログラムの強度を補償する補償手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の分光特性測定装置。

【請求項3】
 
複数の測定点から発せられた測定光の固定反射測定光と可動反射測定光が同じ領域を透過することを特徴とする請求項1または2に記載の分光特性測定装置。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

※Click image to enlarge.

JP2014539680thum.jpg
State of application right Registered
Please contact us by E-mail or facsimile if you have any interests on this patent.


PAGE TOP

close
close
close
close
close
close
close