(In Japanese)計測装置及び計測方法
| Patent code | P170013978 |
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| File No. | (S2014-0366-N0) |
| Posted date | Apr 7, 2017 |
| Application number | P2015-559872 |
| Patent number | P6422449 |
| Date of filing | Jan 19, 2015 |
| Date of registration | Oct 26, 2018 |
| International application number | JP2015051194 |
| International publication number | WO2015115221 |
| Date of international filing | Jan 19, 2015 |
| Date of international publication | Aug 6, 2015 |
| Priority data |
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| Inventor |
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| Applicant |
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| Title | (In Japanese)計測装置及び計測方法 |
| Abstract |
(In Japanese)計測対象分子の変更に伴う干渉光学系の調整を不要とすることが可能な計測装置を提供すること。 計測装置1は、ポンプ光PPとストークス光STとシグナル光SGを発生する光源部10と、ポンプ光PP及びストークス光STを被検体Sへ照射する光照射部20と、シグナル光SGの波長を変調する光変調部30と、波長変調されたシグナル光SGと被検体Sからのアンチストークス光ASとの干渉光を検出する第1光検出部50と、シグナル光SGと波長変調されたシグナル光SGとの干渉光を検出する第2光検出部52と、第1光検出部50からの信号から第2光検出部52からの信号との位相差が90°の成分を検出する信号検出部60を含み、光源部10の光パラメトリック発振器12は、光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有する。 |
| Outline of related art and contending technology |
(In Japanese) 従来から、ポンプ光と、ポンプ光の第二高調波を励起光とした光パラメトリック発振器（OPO）からのストークス光（アイドラー光）とを材料に照射し、材料からのアンチストークス光と、OPOからのシグナル光とを干渉させて、ヘテロダイン検波する光学的装置が知られている。 |
| Field of industrial application |
(In Japanese) 本発明は、被検体の分子情報を計測する計測装置及び計測方法に関する。 |
| Scope of claims |
(In Japanese) 【請求項1】 ポンプ光を発生する光源と、前記ポンプ光の第二高調波を励起光とする光パラメトリック発振器とを有し、前記光パラメトリック発振器からのアイドラー光をストークス光として発生する光源部と、 前記ポンプ光及び前記ストークス光を被検体へ照射する光照射部と、 前記光パラメトリック発振器からの一部のシグナル光の波長を変調する光変調部と、 波長変調された前記シグナル光と、前記被検体からのアンチストークス光との干渉光を検出する第1光検出部と、 前記光パラメトリック発振器からの一部のシグナル光と、波長変調された前記シグナル光との干渉光を検出する第2光検出部と、 前記第2光検出部からの信号を参照信号として、前記第1光検出部からの信号から前記参照信号との位相差が90°の成分を検出する信号検出部とを含み、 前記光パラメトリック発振器は、 光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有する、計測装置。 【請求項2】 請求項1において、 前記被検体からのアンチストークス光を増幅する光増幅部を更に含み、 前記第1光検出部は、 波長変調された前記シグナル光と、増幅された前記アンチストークス光との干渉光を検出する、計測装置。 【請求項3】 請求項1又は2において、 前記ポンプ光及び前記ストークス光の波長は、0．7μm～1．5μmである、計測装置。 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれかにおいて、 前記信号検出部からの信号を血糖値に換算する処理を行う信号処理部を更に含む、計測装置。 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれかにおいて、 前記光照射部は、 前記ポンプ光及び前記ストークス光を前記被検体上で走査させる、計測装置。 【請求項6】 ポンプ光を発生する手順と、 前記ポンプ光の第二高調波を励起光とする光パラメトリック発振器からのアイドラー光をストークス光として発生する手順と、 前記ポンプ光及び前記ストークス光を被検体へ照射する手順と、 前記光パラメトリック発振器からの一部のシグナル光の波長を変調する手順と、 第1光検出部によって、波長変調された前記シグナル光と、前記被検体からのアンチストークス光との干渉光を検出する第1光検出手順と、 第2光検出部によって、前記光パラメトリック発振器からの一部のシグナル光と、波長変調された前記シグナル光との干渉光を検出する第2光検出手順と、 信号検出部によって、前記第2光検出部からの信号を参照信号として、前記第1光検出部からの信号から前記参照信号との位相差が90°の成分を検出する手順とを含み、 前記光パラメトリック発振器は、 光路に対して互いに逆方向に同一角度傾くように回転する2つの非線形光学結晶を有する、計測方法。 |
| IPC(International Patent Classification) |
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| F-term |
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Drawing
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| State of application right | Registered |
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