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SAMPLE OBSERVATION DEVICE

Patent code P180014828
File No. H28-039
Posted date Mar 20, 2018
Application number P2016-233865
Publication number P2018-091676A
Date of filing Dec 1, 2016
Date of publication of application Jun 14, 2018
Inventor
  • (In Japanese)志村 俊昭
Applicant
  • YAMAGUCHI UNIVERSITY
Title SAMPLE OBSERVATION DEVICE
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sample observation device that is used in observation of optical properties of a sample, and enables an entire sample to be observed at a time.
SOLUTION: A sample observation device of the present invention comprises: a sample loading part that has a light source illuminating a sample and a first polarizer located on an optical path on a sample illumination optical path inside a base, and has a first transparent plate where the sample is loaded as an upper wall of the base; a support part that includes a supporting post to be vertically set to the base; and an observation unit that is supported rotatably in the support part in an in-plane parallel with the first transparent plate, and includes a second polarizer above the first transparent plate and made insertable into a sample observation optical path. Insertion/retreat of the second polarization into/from the sample observation path causes a cross nicol and an open nicol to be switched, and an entire observation of the sample loaded on the first transparent plate can be made from an upper part of the sample observation optical path.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

従来、岩石・鉱物などの試料観察には、光学顕微鏡の一種である偏光顕微鏡が用いられている。
偏光顕微鏡は、偏光を用いて試料の複屈折や偏光の振動方向による特性を観察する装置であって筒状の形態を呈し、接眼レンズから試料の一部を覗く構造である(例えば、特許文献1,2参照)。

前記偏光顕微鏡は、物質の偏光に関わる性質を観察することができるため、従来の岩石や鉱物の観察に加え、最近では、雪氷学・歯学・細胞学・高分子化学・液晶など様々な分野における試料観察・研究に用いられている。

ところが、前記偏光顕微鏡は、接眼レンズから試料の一部を覗く構造のため、試料の狭い部分を少しずつ観察するしかなく、試料全体を一度に観察できない問題がある。

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、可視光線を透過する物質の光学的性質の観察に用いる試料観察装置であって、岩石・鉱物・雪氷・生体細胞・液晶・高分子など様々な物質の光学的性質の観察・研究に用いることができる試料観察装置に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
試料を照明する光源及び試料照明光路上に位置する第1偏光板を基台内部に有し、試料が載置される第1透明板を前記基台の上壁として有する試料載置部と、
前記基台に立設される支柱を含む支持部と、
前記支持部に前記第1透明板と平行な面内で回動可能に支持され、前記第1透明板の上方であって試料観察光路中に挿脱可能とされる第2偏光板を含む観察部と、
から構成され、
前記第2偏光板の前記試料観察光路中への挿脱によりクロスニコルとオープンニコルを切り替えて、前記試料観察光路上方から前記第1透明板上に載置される試料の全体観察を可能とすることを特徴とする試料観察装置。

【請求項2】
 
前記光源は面状光源である請求項1記載の試料観察装置。

【請求項3】
 
前記光源は面発光白色LED光源であり、前記面発光白色LED光源と前記第1偏光板との間に前記面発光白色LED光源からの光を拡散させて輝度を均一化する光拡散板を有する請求項1記載の試料観察装置。

【請求項4】
 
前記観察部は前記第2偏光板の上方又は下方であって前記支持部に支持されるレンズを含む請求項1乃至3のいずれかに記載の試料観察装置。

【請求項5】
 
前記レンズはフレネルレンズであり、
前記支持部は前記第1透明板の上方であって前記試料観察光路上に位置し前記第1透明板と平行に配設される第2透明板を含み、
前記フレネルレンズは前記第2透明板上に載置支持される請求項4記載の試料観察装置。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2016233865thum.jpg
State of application right Published
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