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スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置 (未公開特許出願) NEW コモンズ

国内特許コード P180015069
整理番号 FU757
掲載日 2018年6月13日
出願番号 特願2017-170670
出願日 平成29年9月5日(2017.9.5)
発明者
  • 藤垣元治
  • 川原滉平
出願人
  • 国立大学法人福井大学
発明の名称 スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置 (未公開特許出願) NEW コモンズ
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