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STRAIN DETECTION DEVICE, STRAIN DETECTION METHOD, AND STRAIN DETECTION PROGRAM

Patent code P180015307
File No. S2018-0301-N0
Posted date Sep 28, 2018
Application number P2018-053128
Publication number P2019-164091A
Date of filing Mar 20, 2018
Date of publication of application Sep 26, 2019
Inventor
  • (In Japanese)佐々木 進
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人新潟大学
Title STRAIN DETECTION DEVICE, STRAIN DETECTION METHOD, AND STRAIN DETECTION PROGRAM
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a distortion detection device capable of detecting a wide range of distortion of a sample, a distortion detection method, and a distortion detection program.
SOLUTION: A distortion detection device 1 comprises; a transmitting unit 30 for transmitting a radio wave (a π/2 pulse signal and a π pulse signal) to a sample 61; a receiving unit 40 for receiving a signal (a spin echo signal) after transmitting the radio wave from the transmitting unit 30; a frequency analysis unit 10a for performing frequency analysis on a received signal; and a distortion presence discrimination unit 10b for discriminating distortion in the sample 61 when a plurality of peaks are detected based on frequency analysis results by the frequency analysis unit 10a and discriminates no distortion in the sample 61 when a single peak is detected.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

従来から、例えば、特許文献1に記載されるように、試料の歪みを観察する手法として、試料の拡大像を生成する電子顕微鏡が知られていた。

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、歪み検出装置、歪み検出方法及び歪み検出プログラムに関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
試料に電波を送信する送信部と、
前記送信部からの前記電波の送信後に信号を受信する受信部と、
受信した前記信号について周波数解析を行う周波数解析部と、
前記周波数解析部による周波数解析結果に基づき複数のピークが検出された場合には前記試料に歪みがある旨判別し、単数のピークが検出された場合には前記試料に歪みがない旨判別する歪み有無判別部と、を備える、
歪み検出装置。

【請求項2】
 
前記周波数解析結果に基づき前記複数のピークの間の周波数差に応じて前記試料の歪み量を検出する歪み量検出部を備える、
請求項1に記載の歪み検出装置。

【請求項3】
 
前記複数のピークは、
最大の信号強度を有するメインピークと、
前記メインピークよりも信号強度が弱いサテライトピークと、を備え、
前記歪み検出装置は、さらに、前記サテライトピークの幅に応じて前記試料における歪みの空間的な分布を検出する歪み分布検出部を備える、
請求項1又は2に記載の歪み検出装置。

【請求項4】
 
前記複数のピークは、
最大の信号強度を有するメインピークと、
前記メインピークよりも信号強度が弱いサテライトピークと、を備え、
前記歪み検出装置は、さらに、前記メインピークの積分強度と前記サテライトピークの積分強度に基づき前記試料の全域に占める歪みが存在しない割合又は歪みが存在する割合を検出する歪み割合検出部を備える、
請求項1から3の何れか一項に記載の歪み検出装置。

【請求項5】
 
前記歪み検出装置は、前記試料の周囲に静磁場を生成する静磁場生成部を備え、
前記送信部は、前記電波としてラーモア周波数のπ/2パルスとπパルスを所定の時間間隔で送信し、
前記受信部は、前記信号としてスピンエコー信号を受信し、
前記周波数解析部は、前記ラーモア周波数を変化させつつ、前記スピンエコー信号のピーク強度を検出することにより前記周波数解析を行う、
請求項1から4の何れか一項に記載の歪み検出装置。

【請求項6】
 
送信部を通じて試料に電波を送信する送信ステップと、
前記送信部からの前記電波の送信後に受信部を通じて信号を受信する受信ステップと、
受信した前記信号について周波数解析を行う周波数解析ステップと、
前記周波数解析ステップによる周波数解析結果に基づき複数のピークが検出された場合には前記試料に歪みがある旨判別し、単数のピークが検出された場合には前記試料に歪みがない旨判別する歪み有無判別ステップと、を備える、
歪み検出方法。

【請求項7】
 
コンピュータに、
送信部を通じて試料に電波を送信した後に受信部を通じて受信した信号について周波数解析を行う周波数解析機能と、
前記周波数解析機能による周波数解析結果に基づき複数のピークが検出された場合には前記試料に歪みがある旨判別し、単数のピークが検出された場合には前記試料に歪みがない旨判別する歪み有無判別機能と、を実現させるための歪み検出プログラム。
IPC(International Patent Classification)
Drawing

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JP2018053128thum.jpg
State of application right Published
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