Top > Search of Japanese Patents > (In Japanese)物体内部の光学特性を計測する計測装置及び方法

(In Japanese)物体内部の光学特性を計測する計測装置及び方法 (Patent unpublished to the public)

Patent code P190016087
File No. S2019-0028-N0
Posted date May 27, 2019
Application number P2018-219125
Date of filing Nov 22, 2018
Inventor
  • (In Japanese)高谷 剛志
  • (In Japanese)田中 賢一郎
  • (In Japanese)舩冨 卓哉
  • (In Japanese)向川 康博
  • (In Japanese)青砥 隆仁
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人奈良先端科学技術大学院大学
Title (In Japanese)物体内部の光学特性を計測する計測装置及び方法 (Patent unpublished to the public)
(In Japanese)未公開特許(まだ出願公開されていない特許)については、上記項目のみについて公開しています。未公開特許について、詳細をお知りになりたい方は、下記「問合せ先」までお問い合わせください。詳細内容の開示にあたっては、別途、秘密保持契約を締結していただくことが必要となります。


PAGE TOP

close
close
close
close
close
close
close