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NON-CONTACT MEASUREMENT SYSTEM UPDATE_EN

Patent code P200017182
Posted date Sep 8, 2020
Application number P2017-250214
Publication number P2019-117070A
Date of filing Dec 26, 2017
Date of publication of application Jul 18, 2019
Inventor
  • (In Japanese)岩田 史郎
  • (In Japanese)今若 直人
  • (In Japanese)野村 健一
  • (In Japanese)堀井 美徳
  • (In Japanese)牛島 洋史
  • (In Japanese)鍛冶 良作
Applicant
  • (In Japanese)島根県
  • (In Japanese)国立研究開発法人産業技術総合研究所
Title NON-CONTACT MEASUREMENT SYSTEM UPDATE_EN
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a non-contact measurement system that can avoid contamination caused by a to-be-measured object.
SOLUTION: A non-contact measurement system according to the present invention comprises an electrostatic capacitance sensor and a measurement unit for measuring an electrostatic capacitance value of the electrostatic capacitance sensor. The electrostatic capacitance sensor includes an electrostatic capacitance sensor unit for forming an electrostatic capacitance and a container for a to-be-measured object for arranging the to-be-measured object. The electrostatic capacitance sensor is arranged so as not to be in contact with the to-be-measured object away from the container for the to-be-measured object in a state that the to-be-measured object is arranged in the container for the to-be-measured object. The measurement unit measures the electrostatic capacitance value of the electrostatic capacitance sensor in the state that the to-be-measured object is arranged in the container for the to-be-measured object.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

従来、物体の導電性の有無や導電率を測定する方法として、金属からなる一対の電極を被測定物に接触させ、電極間に流れる電流を測定する手法があった(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載のような電極を被測定物に接触させる手法では、被測定物が電極に付着することが問題となっている。

一方で、特許文献2に記載の手法では、導電率センサを構成する2枚の平板電極を樹脂で覆うことにより被測定物によって電極が汚染されることを防いでいる。

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、静電容量型センサを利用して被測定物に起因する静電容量値の変化を非接触で測定するシステムに関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
静電容量型センサと、
前記静電容量型センサの静電容量値を測定する測定部と、
を備えた非接触測定システムであって、
前記静電容量型センサは、静電容量を形成する静電容量型センサ部と、被測定物を配置する被測定物用容器と、を含み、
前記静電容量型センサは、前記被測定物用容器に前記被測定物を配置した状態において前記被測定物用容器を隔てて前記被測定物とは接触しないように配置され、
前記測定部は、前記被測定物用容器に前記被測定物を配置した状態において前記静電容量型センサの静電容量値を測定することを特徴とする非接触測定システム。

【請求項2】
 
前記被測定物用容器の近傍に、前記被測定物に接触しないように設けられた電極をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の非接触測定システム。

【請求項3】
 
前記電極はグラウンドに接地されたグラウンド電極であることを特徴とする請求項2に記載の非接触測定システム。

【請求項4】
 
前記静電容量型センサ部は、
基材と、
前記基材の第1の表面に形成された第1の電極と、
前記基材の前記第1の表面とは反対側の第2の表面に形成され、前記第1の電極とは面積が異なる第2の電極と、を含むことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の非接触測定システム。

【請求項5】
 
制御部と、
前記被測定物についての検出閾値範囲を記憶した記憶部と、
をさらに備え、
前記制御部は、
前記測定部によって測定された静電容量値が前記検出閾値範囲内にあるか否かを判定し、
前記測定された静電容量値が前記検出閾値範囲内にはないと判定した場合、前記被測定物における異常を検出することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の非接触測定システム。

【請求項6】
 
制御部と、
前記被測定物の濃度と前記測定部が測定した静電容量値の変化量との関係に関する検量線を記憶した記憶部と、
をさらに備え、
前記制御部は、
前記検量線において、前記測定部によって測定された静電容量値に対応する濃度を、前記被測定物の濃度とすることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の非接触測定システム。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2017250214thum.jpg
State of application right Published
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