測定装置、測定方法、製造方法、量子コンピュータ、制御方法、及び、集積回路
（未公開特許出願）
| 国内特許コード | P210017515 |
|---|---|
| 整理番号 | 09234-JP |
| 掲載日 | 2021年4月7日 |
| 出願番号 | 特願2021-013935 |
| 出願日 | 令和3年1月29日(2021.1.29) |
| 発明者 |
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| 出願人 |
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| 発明の名称 |
測定装置、測定方法、製造方法、量子コンピュータ、制御方法、及び、集積回路
（未公開特許出願）
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| 発明の概要 | 測定効率の高い量子ドットデバイスの測定技術を実現する。 |
| 国際特許分類(IPC) |
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| 参考情報 （研究プロジェクト等） | CREST 量子状態の高度な制御に基づく革新的量子技術基盤の創成 |
英語項目の表示
| 発明者 |
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|---|---|
| 出願人 |
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| 発明の名称 |
Measuring equipment, measuring method, manufacturing method, quantum computer, control method, and integrated circuit
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E-mail:
- Address: 〒351-0198 埼玉県和光市広沢２－１
- TEL: 048-467-9729
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