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INTERFACE FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS, MASS SPECTROMETER, AND MASS SPECTROMETRY

Patent code P03A000207
File No. U2000P069
Posted date Aug 28, 2003
Application number P2000-242002
Publication number P2002-056799A
Patent number P3413491
Date of filing Aug 10, 2000
Date of publication of application Feb 22, 2002
Date of registration Apr 4, 2003
Inventor
  • (In Japanese)西 信之
Applicant
  • (In Japanese)大学共同利用機関法人自然科学研究機構
Title INTERFACE FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS, MASS SPECTROMETER, AND MASS SPECTROMETRY
Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a new mass spectrometer and a mass spectrometry enabling a highly precise mass spectrometric analysis of a solution sample, while enabling an exact mass analysis covering a long time having high detection sensitivity.

SOLUTION: In a state where a rotating/parallel running drums prepared in a vacuum chamber of an interface for mass spectrometric analysis which constitutes a mass spectrometer, is rotated/run, a liquid sample which contains a solution kind which is presented to the mass spectrometric analysis, is ejected to the above rotating/parallel running drums, and the above solution kinds is fixed. Subsequently, laser light is irradiated to the above fixed solution kind through a laser light introduction port prepared in the above vacuum chamber from a laser light source of the above interface for mass spectrometric analysis, and the above solution kind is ionized.

Outline of related art and contending technology (In Japanese)従来、不揮発性高質量分子の質量スペクトルの測定には、Matrix-Assisted Laser Deposition Ionization (MALDI)法や、エレクトロスプレー法などが用いられており、これによって上記質量スペクトルの測定は、化学及び生物学など広範囲な分野において応用されるようになってきた。MALDI法は、質量分析に供する溶質種のイオン化を促進すべく、この溶質種を含有してなる試料溶液中にマトリックス試薬を大量に混入させ、このように作製した液体試料を所定のプレート上に滴下し、蒸発結晶化させる。次いで、このプレートを質量分析計中に挿入し、レーザ光を照射して前記溶質種をイオン化して質量分析に供するものである。また、エレクトロスプレー法は、溶質種を含む液体試料を噴射するためのノズルに対して高電圧を負荷し、これによって前記液体試料の脱溶媒及び前記溶質種のイオン化を行い、このイオン化した溶質種を質量分析計中に直接的に導入して質量分析を行うものである。このエレクトロスプレー法においては、前記溶質種のイオン化を促進する目的で、前記液体試料に電解質を加える。また、前記脱溶媒を促進する目的で、水の構造を破壊するメタノールやアセトニトリルなどを混入する。
Field of industrial application (In Japanese)液体試料の質量分析、液体クロマトグラフの質量分析、生体試料の質量分析、及びイオン化分光分析などに好適に用いることのできる、質量分析用インターフェイス、質量分析計、及び質量分析方法
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
  レーザ光導入口を有する真空チャンバと、この真空チャンバ内部に設けられた回転並進ドラムと、この回転並進ドラム上に質量分析に供する溶質種を含有してなる液体試料を噴射し、前記溶質種を固定するための試料供給用ノズルと、前記レーザ光導入口より所定のレーザ光を導入し、前記溶質種の固定に連続させて、前記溶質種を連続的にイオン化するためのレーザ光源とを具えることを特徴とする、質量分析用インターフェイス。
【請求項2】
  前記レーザ光導入口は、前記真空チャンバにおけるチャンバ壁の、前記回転並進ドラムに対して、前記試料供給用ノズルと反対側に位置する部分に形成したことを特徴とする、請求項1に記載の質量分析用インターフェイス。
【請求項3】
  前記回転並進ドラムは、シャフトと表面チタン層チューブとの2重構造を有することを特徴とする、請求項1又は2に記載の質量分析用インターフェイス。
【請求項4】
  前記試料供給用ノズルは、その先端部に加熱キャップを有することを特徴とする、請求項1~3のいずれか一に記載の質量分析用インターフェイス。
【請求項5】
  前記試料供給用ノズルは、その内部にフィルタを有することを特徴とする、請求項1~4のいずれか一に記載の質量分析用インターフェイス。
【請求項6】
  前記質量分析用インタ-フェイスは、前記溶質種のイオン化を促進するために、前記回転並進ドラム上に光吸収材料を噴射し、この光吸収材料からなる光吸収層を形成するための、イオン化促進用ノズルを具えることを特徴とする、請求項1~5のいずれか一に記載の質量分析用インターフェイス。
【請求項7】
  請求項1~6のいずれか一に記載の質量分析用インターフェイスと、イオン加速電極部と、質量分析部とを具えることを特徴とする、質量分析計。
【請求項8】
  前記イオン加速電極部は、第1の高真空チャンバと、加速電極とを具えることを特徴とする、請求項7に記載の質量分析計。
【請求項9】
  前記質量分析部は、第2の高真空チャンバと、リフレクトロン反射電極と、検出器とを具えることを特徴とする、請求項7又は8に記載の質量分析計。
【請求項10】
  質量分析計を構成する質量分析用インターフェイスの真空チャンバを真空排気する工程と、前記真空チャンバ内に設けられた回転並進ドラムを回転及び並進させた状態において、前記回転並進ドラムに対して、前記質量分析用インターフェイスの試料供給用ノズルから質量分析に供する溶質種を含有してなる液体試料を噴射し、前記回転並進ドラム上に前記溶質種を固定する工程と、固定された前記溶質種に対して、前記質量分析用インターフェイスのレーザ光源から前記真空チャンバに設けられたレーザ光導入口を介してレーザ光を照射し、前記溶質種をイオン化する工程と、を含むことを特徴とする、質量分析方法。
【請求項11】
  前記回転並進ドラムに対して前記液体試料を噴射し、前記溶質種を固定する以前に、前記回転並進ドラムを回転及び並進させた状態において、前記回転並進ドラムに対して、前記質量分析用インターフェイスのイオン化促進用ノズルから光吸収材料を噴射し、この光吸収材料からなる光吸収層を形成する工程を含むことを特徴とする、請求項10に記載の質量分析方法。
Industrial division
  • Electron tube
  • (In Japanese)試験、検査
IPC(International Patent Classification)
F-term
State of application right Right is in force
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