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SCANNING PROBE MICROSCOPE

Patent code P03A000453
File No. P2000-074-JP01
Posted date Aug 28, 2003
Application number P2001-192149
Publication number P2003-004619A
Patent number P3557459
Date of filing Jun 26, 2001
Date of publication of application Jan 8, 2003
Date of registration May 28, 2004
Inventor
  • (In Japanese)武笠 幸一
  • (In Japanese)末岡 和久
  • (In Japanese)加茂 直樹
  • (In Japanese)細井 浩貴
  • (In Japanese)澤村 誠
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人北海道大学
Title SCANNING PROBE MICROSCOPE
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a scanning probe microscope of novel arrangement applicable to various fields, e.g. biochemical field, for measuring various physical properties.
SOLUTION: At the forward end part of a probe 2 in the scanning probe microscope, a carbon nanotube 3 having a conductive armchair type crystal structure or a carbon nanotube 3 having a forward end part modified chemically with a specified modifier molecule is provided.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


走査型プローブ顕微鏡は、物質表面の状態を高空間分解能で測定することができ、さらにはナノメートルのオーダから原子レベルのオーダの精度で、原子又は分子をマニュピュレートすることができる。したがって、ナノテクノロジー技術における重要な装置技術の地位を占めている。



しかしながら、従来の走査型プローブ顕微鏡では物質表面のアスペクト比などに応じた形状などを測定することができるのみで、他の物性、例えば、物質の磁気的構造などを測定することはできない。また、適用できる分野も自ずから限定されてしまい、生化学分野などにおいて利用することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供することができないでいた。

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、走査型プローブ顕微鏡に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 カンチレバーと、このカンチレバー上に形成された探針と、この探針の先端部分に形成された、アームチェア型の結晶構造を有し、伝導性を呈するカーボンナノチューブと、前記カーボンナノチューブに接続されたスピン偏極電子源とを具え、
前記スピン偏極電子源から前記カーボンナノチューブを介して磁性試料中にスピン電子を注入せしめ、前記磁性試料の表面磁気構造及びスピン偏極度の空間分布の少なくとも一方を測定することを特徴とする、走査型プローブ顕微鏡。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2001192149thum.jpg
State of application right Registered
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