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GRAY-SCALE IMAGE PROCESSING METHOD FOR ANALYSIS OF OBSERVED IMAGE SIGNAL

Patent code P03A000563
File No. U2000P159
Posted date Apr 16, 2004
Application number P2001-068723
Publication number P2002-269541A
Patent number P3416736
Date of filing Mar 12, 2001
Date of publication of application Sep 20, 2002
Date of registration Apr 11, 2003
Inventor
  • (In Japanese)長谷山 美紀
  • (In Japanese)武笠 幸一
  • (In Japanese)末岡 和久
  • (In Japanese)武隈 育子
  • (In Japanese)本多 博之
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人北海道大学
Title GRAY-SCALE IMAGE PROCESSING METHOD FOR ANALYSIS OF OBSERVED IMAGE SIGNAL
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for obtaining the shape and directivity of the magnetic pole region of a magnetic storage medium from the MFM observation image of the magnetic storage medium, which allows more precise analysis than in the conventional methods.
SOLUTION: This method comprises the step of extracting the magnetic pole region in the magnetic storage medium by the use of a genetic algorithm to the MFM observation image of the magnetic storage medium; the step of binarizing the MFM observation image with the average value of pixel values of the extracted magnetic pole region as a threshold to obtain a binarized image; the step of applying a thinning algorithm to the binarized image for obtaining the thinned image of the magnetic pole region; and the step of applying a Hough transformation to a line element in the thinned image.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


例えば、高密度記録に適した低ノイズ媒体を開発するためには、媒体の磁気クラスタ構造を把握し、記録磁化状態と記録再生特性との関係を明らかにする必要がある。磁気力顕微鏡(Magnetic Force Microscope:MFM)は、媒体の磁化状態を評価する手段として広く用いられており、磁気クラスタの解析にも使用されてきた。MFM信号のクラスタ抽出に用いられている従来の技術は、周波数分布や統計処理を利用して実現されていた。

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、電子工学における画像処理分野に関係し、特に観察濃淡画像信号を解析する二次元定量解析方法に関し、さらに特に、磁気記録媒体のMFM観察像から磁気記録媒体の磁極領域の形状及び方向性を解析することに関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
磁気記録媒体の磁極領域の直線状分布特性を解析する方法において、前記磁気記録媒体のMFM観察像に遺伝的アルゴリズムを用いて前記磁気記録媒体における磁極領域を抽出するステップと、前記抽出された磁極領域の画素値の平均値をしきい値とし、前記MFM観察像を二値化し、二値化画像を得るステップと、前記二値化画像に対して細線化アルゴリズムを適用し、線要素を抽出し、磁極領域の細線化画像を得るステップとを含むことを特徴とする方法。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2001068723thum.jpg
State of application right Registered
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