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METHOD OF CORRECTING DISTORTION ABERRATION meetings

Patent code P03A003536
File No. WASEDA-203
Posted date Mar 25, 2004
Application number P1999-311236
Publication number P2001-133223A
Patent number P3668654
Date of filing Nov 1, 1999
Date of publication of application May 18, 2001
Date of registration Apr 15, 2005
Inventor
  • (In Japanese)畑 浩二
  • (In Japanese)大内 一
  • (In Japanese)橋本 周司
Applicant
  • (In Japanese)株式会社大林組
  • (In Japanese)学校法人早稲田大学
Title METHOD OF CORRECTING DISTORTION ABERRATION meetings
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To highly accurately measure an image.
SOLUTION: Image heights h1-h5 based on actual measurement and the image heights h1'-h5' on a picked-up image corresponding to them are respectively obtained and a distortion aberration rate is obtained based on the values by the equation, the distortion aberration rate (%)=100×(h'-h)/h. When such a distortion aberration rate is successively obtained along X' and Y' axes, the correction curve of the distortion aberration rate is obtained. When the correction curve is obtained beforehand, a measured value at the time of picking up the image of a measurement object by a digital camera can be applied to the correction curve and corrected.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


CCDなどのデジタルカメラを用いる画像計測は、工業製品の検査,加工管理などに用いられていて、主として、それほど高度の計測精度を要求されない分野に利用されている。



ところで、この種の画像計測は、非接触での計測が可能なので、例えば、橋梁などの構造物の経時的な変位計測など、手の届かない部位や、危険な部位での高精度の計測に利用することが期待されている。



しかしながら、従来のデジタルカメラを用いる画像計測を高度の計測精度が要求される分野に適用するには、以下に説明する技術的な課題があった。

Field of industrial application (In Japanese)


この発明は、歪曲収差の補正方法に関し、特に、画像計測における計測精度を向上させる補正方法に関するものである。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
座標値が既知の複数のターゲットマークが表示されたキャリブレーション板をデジタルカメラにより撮像し、撮像された画面上の前記ターゲットマーク間の計測値と前記既知座標値とに基づいて、
前記デジタルカメラの光軸中心と、ピクセル中心との間のズレを補正するとともに、
多次元多項補正近似式のパラメータを決定し、得られた多次元多項補正近似式から、計測値に対する修正補正値を求める歪曲収差の補正方法であって、
前記多次元多項補正近似式は、h=ah’5+bh’5+ch’4+dh’3+eh’
からなる5次元の多項補正式とし、撮像画面上に5点以上の測点を設定して、各測点に置ける像高h1'~h5’を得、これに対応する実測像高h1~h5とに基づいて、最小二乗法を用いて、最も近似した値が得られるパラメータ(a~e)を決定することを特徴とする歪曲収差の補正方法。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP1999311236thum.jpg
State of application right Registered
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