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* Published Japanese patents only
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| 1 | 特願2001-058528 | 特許第3527947号 | プローブ及びその製造方法並びにプローブを有する顕微鏡及びテスタ | 2003/08/28 | 2018/03/20 | 北海道大学 |
| 2 | 特願2003-020979 | 特許第3762993号 | 原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡 | 2007/09/14 | 2018/03/15 | 奈良先端科学技術大学院大学 |
| 3 | 特願2005-040478 | 特許第4825966号 |
粗動微動位置決め装置
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2006/11/17 | 2018/03/02 | 宇都宮大学 |
| 4 | 特願2001-192149 | 特許第3557459号 | 走査型プローブ顕微鏡 | 2003/08/28 | 2018/03/20 | 北海道大学 |
| 5 | 特願2001-059440 | 特許第3472828号 | 走査型磁気検出装置、及び走査型磁気検出装置用深針 | 2003/08/28 | 2018/03/20 | 北海道大学 |
| 6 | 特願2001-064937 | 特許第3551315号 | 電流の計測方法および表面形状の測定装置 | 2005/01/18 | 2018/03/20 | 静岡大学 |
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