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1 特願2003-314462 特許第3968436号 オージェー光電子コインシデンス分光器、及びオージェー光電子コインシデンス分光法 2007/11/30 2018/03/15 高エネルギー加速器研究機構
2 特願2012-273064 特許第6206901号 散乱強度分布の測定方法及び測定装置 2015/02/18 2017/12/27 高エネルギー加速器研究機構
3 特願2013-198163 特許第6411722号 磁気特性測定方法 2015/09/04 2018/11/19 高エネルギー加速器研究機構
4 特願2017-054108 特許第6872700号 カセット装填装置 2018/11/01 2021/06/18 高エネルギー加速器研究機構
5 特願2006-270971 特許第5292568号 非破壊硬さ評価方法、非破壊硬さ評価装置および非破壊硬さ評価に用いられる硬さ測定装置 新技術説明会 2008/06/13 2018/02/21 静岡大学
6 特願2012-071442 特許第5904835号 試料保持装置および試料分析方法 新技術説明会 2013/10/28 2017/12/25 関西学院大学
7 特願2015-036074 特許第6525189号 走査型電子顕微鏡用標準試料、その製造方法、走査型電子顕微鏡の評価方法、及びSiC基板の評価方法。 2016/04/19 2020/11/19 関西学院大学
8 特願2016-089094 特許第6664133号 傾斜支持台付き標準試料、その製造方法、走査型電子顕微鏡の評価方法、及びSiC基板の評価方法 外国出願あり 2018/01/24 2020/11/19 関西学院大学
9 特願2004-048761 特許第4276106号 X線回折装置及びX線回折システム 新技術説明会 2007/10/26 2018/03/09 鉄道総合技術研究所
10 特願2009-173619 特許第5339253号 X線応力測定方法 新技術説明会 実績あり 2009/07/31 2018/01/23 金沢大TLO
11 特願2014-213211 特許第5842242号 回折環分析方法および回折環分析装置 2015/09/01 2017/12/20 金沢大TLO
12 特願2013-216799 特許第6313010号 回折環計測装置 新技術説明会 2015/09/01 2018/05/22 金沢大TLO
13 特願2012-150939 特許第6011846号 X線応力測定方法 2015/09/01 2017/12/25 金沢大TLO
14 特願2016-105618 特許第6692092号 応力測定方法及び応力測定装置 2017/07/12 2020/06/09 金沢大TLO
15 特願2020-507917 WO2019182097 磁性体観察方法および磁性体観察装置 新技術説明会 2021/05/07 2021/05/07 量子科学技術研究開発機構
16 特願2011-022414 特許第5747406号 金属層の結晶粒径及び粒径分布評価方法並びにそれを用いた半導体集積回路装置の製造方法 新技術説明会 2011/05/09 2018/01/10 茨城大学
17 特願2017-204584 特許第6784405号 結晶アレイ検出器、小角散乱測定装置、及び小角散乱測定方法 2019/06/24 2020/11/19 茨城大学
18 特願2009-047165 特許第5489032号 ビーム量測定機能に優れたイオンビーム分析装置 2014/06/06 2018/01/25 若狭湾エネルギー研究センター
19 特願2010-232524 特許第5641503号 マルチステップ・ラティス・ボクセル法 2012/05/14 2019/01/21 筑波大学
20 特願2015-117985 特許第6692108号 分析装置及び分析システム 2016/01/25 2020/06/09 筑波大学
21 特願2009-118868 特許第5429861号 走査型リアルタイム顕微システムおよび走査型X線高速描画システム 2011/07/12 2018/01/25 科学技術振興機構(JST)
22 特願2010-502901 特許第5346918号 局所電界分布可視化方法とその装置 2011/07/25 2018/01/15 科学技術振興機構(JST)
23 特願2013-532684 特許第6055766号 生物試料をそのままの姿で観察するための電子顕微鏡による観察方法とそれに用いられる真空下での蒸発抑制用組成物、走査型電子顕微鏡および透過型電子顕微鏡 新技術説明会 2015/06/22 2021/03/11 科学技術振興機構(JST)
24 特願2015-559988 特許第6452630号 含水状態の生物試料の電子顕微鏡観察用保護剤、電子顕微鏡観察用キット、電子顕微鏡による観察、診断、評価、定量の方法並びに試料台 新技術説明会 2017/06/23 2020/12/02 科学技術振興機構(JST)
25 特願2016-538444 特許第6534668号 回折データの解析方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 2017/08/16 2019/07/23 科学技術振興機構(JST)
26 特願2008-101984 特許第5181150号 表面分析方法 外国出願あり 2011/03/24 2020/11/19 神戸大学
27 特願2015-012864 特許第6528264号 イメージング装置及び方法 2019/08/23 2019/10/02 理化学研究所
28 特願2018-160921 特開2020-034410 病理組織標本または細胞診標本の走査型電子顕微鏡による観察方法 2020/03/24 2020/07/17 浜松医科大学
29 特願2019-055757 特開2020-153960 微量液滴に含まれる微粒子の光学・電子顕微鏡による定量方法 2020/11/04 2021/01/22 浜松医科大学
30 特願2005-263339 特許第4825972号 脈理を有する材料の漏洩弾性表面波速度と化学組成比および線膨張係数との関係を求める方法、およびその関係を使ったTiO2-SiO2ガラスのTiO2濃度測定方法および線膨張係数測定方法 2011/08/18 2018/03/05 東北大学
31 特願2019-502851 WO2018159272 時間分解光電子顕微鏡装置および当該装置によるキャリアダイナミクス画像の取得方法 2020/03/24 2020/03/24 東京工業大学
32 特願2003-047422 特許第4154689号 プラスチック標準物質およびその製造方法 2014/10/30 2018/03/15 明治大学
33 特願2015-126296 特許第6607486号 細胞内膜構造形成方法および細胞内膜構造観察方法 新技術説明会 2019/06/13 2019/12/25 情報通信研究機構
34 特願2012-032066 特許第5919024号 薄膜試料の比表面積測定方法及び装置 2014/02/27 2017/12/21 広島大学
35 特願2008-223054 特許第5339584号 電子透過膜及びその製造方法 新技術説明会 2013/05/08 2018/01/30 常翔学園
36 特願2003-020979 特許第3762993号 原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡 2007/09/14 2018/03/15 奈良先端科学技術大学院大学
37 特願2020-518321 特許第6910682号 減速比可変球面収差補正静電レンズ、広角エネルギーアナライザ、及び、二次元電子分光装置 UPDATE 2021/07/28 2021/08/19 奈良先端科学技術大学院大学
38 特願2009-075788 特許第5646147号 二次元分布を測定する方法及び装置 新技術説明会 2011/08/12 2020/03/23 大阪市立大学
39 特願2015-050553 特許第6707249号 マイクロ断層可視化方法およびシステム 新技術説明会 2015/11/02 2020/07/01 名城大学
40 特願2006-131238 特許第5105342号 パルス中性子非弾性散乱実験の高効率測定方法 2008/02/15 2018/02/22 原子力機構
41 特願2013-049697 特許第6179885号 核分裂性物質量の測定方法、及び測定装置 2014/10/10 2017/12/20 原子力機構
42 特願2017-239693 特開2019-105598 陽電子消滅寿命測定装置、放射線計測器の調整方法、放射線計測器 新技術説明会 2019/08/02 2020/01/07 原子力機構
43 特願2018-181563 特開2020-051895 核物質検知装置 2020/07/20 2020/08/24 原子力機構
44 特願2018-200792 特開2020-067392 元素分析方法、元素分析装置 2020/07/20 2020/08/24 原子力機構
45 特願2010-166333 特許第5682882号 内部状態解析方法およびプログラム並びに内部状態解析装置 2020/11/02 2020/11/27 原子力機構
46 特願2019-100962 特開2020-193925 温度測定装置、温度測定方法 2021/02/19 2021/04/21 原子力機構
47 特願2014-167309 特許第6602001号 X線強度変調法及びX線偏光状態分析法 2015/03/24 2019/11/21 信州大学
48 特願2020-509940 特許第6905292号 検査方法 UPDATE 2021/05/27 2021/08/19 信州大学
49 特願2007-514601 特許第4568801号 フレネルゾーンプレート及び該フレネルゾーンプレートを使用したX線顕微鏡 2012/11/19 2018/02/19 京都工芸繊維大学
50 特願2003-165776 特許第3637394号 結晶の対掌性識別方法 2006/04/07 2018/03/15 京都大学
51 特願2010-527698 特許第5846469号 全反射蛍光X線分析装置及び全反射蛍光X線分析方法 新技術説明会 実績あり 2012/06/14 2018/01/18 京都大学
52 特願2011-033264 特許第5834422号 微粒子配向装置及び微粒子配向方法 新技術説明会 2012/09/28 2018/01/17 京都大学
53 特願2009-530180 特許第4973960号 曲率分布結晶レンズおよびX線反射率測定装置 外国出願あり 2013/07/10 2018/01/29 京都大学
54 特願2011-502802 特許第5403767号 原子核共鳴蛍光散乱を用いた非破壊検査システム 外国出願あり 2013/07/10 2018/01/17 京都大学
55 特願2013-142594 特許第6114938号 X線回折装置一体型雰囲気制御グローブボックス装置、およびその製造方法 2014/02/28 2017/12/19 京都大学
56 特願2014-533051 特許第6164748号 核物質探知装置及び核物質探知方法 2016/11/04 2017/12/19 京都大学
57 特願2007-551145 特許第4759750号 曲率分布結晶レンズの製造方法、偏光制御装置、X線反射率測定装置およびX線反射率測定方法 2018/11/21 2018/11/21 京都大学
58 特願2006-532583 特許第4710022号 曲率分布結晶レンズ、曲率分布結晶レンズを有するX線装置及び曲率分布結晶レンズの作製方法 2018/11/21 2018/11/21 京都大学
59 特願2014-544557 特許第6179994号 元素分析装置 2018/11/21 2018/11/21 京都大学
60 特願2019-104458 特開2020-197474 観察装置、観察システム、及び観察方法 2021/05/19 2021/05/19 京都大学
61 特願2012-063526 特許第5975462号 アブレーション装置及び3次元電子顕微鏡 2013/10/17 2020/11/20 九州大学

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