TOP > 国内特許検索

国内特許検索

表示件数 詳細検索
特許の状態
データ提供機関
出願人
IPC
Fターム
マークによる絞込み
データ選択
カレンダー表示 カレンダー表示
番号選択
表示オプション 表示順

リセット


※未公開特許出願は対象外です。


該当件数 17件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2020-539599 WO2020045589 表面形状計測装置および表面形状計測方法 2021/09/27 2021/09/27 兵庫県立大学
2 特願2018-567549 WO2018147473 3次元物体情報計測装置 2020/02/25 2020/02/25 京都工芸繊維大学
3 特願2018-502540 特許第6820020号 形状測定方法及び形状測定装置 2019/02/22 2021/02/26 電気通信大学
4 特願2016-062591 特許第6684623号 干渉型測距計および完全再帰反射体 2019/02/01 2020/06/05 法政大学
5 特願2015-220789 特許第6635758号 屈折率補正法、距離測定法及び距離測定装置 2017/06/30 2020/02/20 電気通信大学
6 特願2014-538203 特許第6202499号 光位相測定方法、光位相測定装置および光通信装置 2016/11/04 2017/12/20 北海道大学
7 特願2014-539666 特許第6192017号 デジタルホログラフィ装置 2016/11/02 2017/12/20 京都工芸繊維大学
8 特願2015-129055 特許第5970682号 眼球計測装置、眼球計測方法 2016/03/29 2017/12/18 北里大学
9 特願2014-109489 特許第6327641号 レーザ走査型干渉計を用いた表面形状の計測方法 2015/10/21 2018/06/20 新潟大学
10 特願2010-550426 特許第5648193号 干渉計測装置および干渉計測方法 2014/02/25 2018/01/19 京都工芸繊維大学
11 特願2009-255138 特許第5552707号 再生装置、干渉計測装置、制御プログラム、および記録媒体 2012/11/19 2018/01/29 京都工芸繊維大学
12 特願2009-107207 特許第5258052号 位相シフト法による形状測定方法及び形状測定装置、並びに複素振幅計測方法及び複素振幅計測装置 2010/12/13 2018/01/25 宇都宮大学
13 特願2010-095569 特許第5743419号 形状測定方法及び装置並びに歪み測定方法及び装置 2010/12/13 2018/01/18 宇都宮大学
14 特願2005-258340 特許第4161059号 拡散面一点微小変位自動計測処理装置 2010/01/12 2018/02/28 豊田工業高等専門学校
15 特願2009-054042 特許第5117430号 光分岐装置 2009/06/26 2018/01/19 埼玉大学
16 特願2006-219881 特許第4843789号 レーザスペックルによるナノメートル変位測定方法と装置 2008/03/10 2018/02/22 富山大学
17 特願2004-290013 特許第4501000号 レーザ干渉変位測定方法およびレーザ干渉変位測定装置 2007/01/09 2018/03/13 新潟大学

(1/1ページ)

  • 1

PAGE TOP