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該当件数 117件

No. 出願番号
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▲▼		 発明の名称
▲▼		 掲載日
▲▼		 更新日
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1 特願2017-020876 特許第6803043号 工作機械の幾何誤差測定方法 2020/05/08 2021/01/25 京都大学
2 特願2015-166523 特許第6653948号 定着体の残存緊張力評価装置 2020/04/06 2020/05/20 京都大学
3 特願2018-567549 WO2018147473 ３次元物体情報計測装置 新技術説明会 2020/02/25 2020/02/25 京都工芸繊維大学
4 特願2018-096085 特開2019-200176 直線発生方法及び直線発生装置 新技術説明会 2020/01/15 2020/03/23 茨城大学
5 特願2014-527960 特許第6270157号 画像処理システムおよび画像処理方法 外国出願あり 2019/06/27 2019/07/22 産総研
6 特願2019-009215 特開2020-118533 計測対象物の面外変位分布や３次元形状を計測する方法とその装置 2019/06/12 2020/12/21 福井大学
7 特願2017-154009 特許第6532042号 自動注射装置 新技術説明会 2019/03/22 2019/07/19 弘前大学
8 特願2018-502540 特許第6820020号 形状測定方法及び形状測定装置 UPDATE 新技術説明会 2019/02/22 2021/02/26 電気通信大学
9 特願2016-062591 特許第6684623号 干渉型測距計および完全再帰反射体 新技術説明会 2019/02/01 2020/06/05 法政大学
10 特願2015-125914 特許第6355206号 カメラキャリブレーション方法、カメラキャリブレーション装置及びカメラキャリブレーションプログラム 2018/11/22 2018/11/22 京都大学
11 特願2015-549192 特許第6508723号 データステッチング装置、データステッチング方法、及びコンピュータプログラム 実績あり 2018/11/22 2019/05/24 京都大学
12 特願2016-047872 特許第6607607号 微粒子の３Ｄ位置特定装置及び特定方法 新技術説明会 2018/10/29 2020/01/09 九州工業大学
13 特願2017-170670 特開2019-045398 スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置 2018/06/13 2020/01/15 福井大学
14 特願2018-021435 特開2019-139030 ３次元計測対象物体の表面に計測結果関連情報を投影する方法および装置 2018/06/13 2020/01/15 福井大学
15 特願2017-519422 特許第6671589号 ３次元計測システム、３次元計測方法及び３次元計測プログラム 2018/05/24 2020/05/27 鹿児島大学
16 特願2016-234323 特開2018-091688 対象物検出装置 2018/03/20 2020/01/08 山口ＴＬＯ
17 特願2017-092144 特許第6308637号 特徴量を用いた３次元計測方法およびその装置 新技術説明会 2017/10/13 2019/02/22 福井大学
18 特願2015-199663 特許第6579467号 奥行き検知システム及び方法 2017/07/19 2019/10/21 山口ＴＬＯ
19 特願2015-205726 特許第6607601号 転倒状態検知システム及び方法 2017/07/19 2020/01/08 山口ＴＬＯ
20 特願2005-005824 特許第4729694号 液体下の表面形状測定方法及びそのシステム 2017/07/07 2020/11/19 国立環境研究所（NIES）
21 特願2014-131760 特許第6432968号 物体形状推定装置及びプログラム 2017/06/30 2020/12/01 岐阜大学
22 特願2016-544258 特許第6707258号 応力可視化装置および力学物性値可視化装置 新技術説明会 2017/06/26 2020/07/03 大阪市立大学
23 特願2015-542908 特許第6474134号 亀裂検出システム及び亀裂検出方法 2017/04/07 2019/03/12 佐賀大学
24 特願2015-147244 特許第6656611号 ３次元形状計測装置、診断システム及び３次元形状計測方法 2017/03/29 2020/03/18 広島市立大学
25 特願2015-130144 特許第6554342号 計測システム及び計測方法 2017/02/16 2019/08/22 宮崎大学
26 特願2014-538203 特許第6202499号 光位相測定方法、光位相測定装置および光通信装置 2016/11/04 2017/12/20 北海道大学
27 特願2014-539666 特許第6192017号 デジタルホログラフィ装置 2016/11/02 2017/12/20 京都工芸繊維大学
28 特願2014-526985 特許第6150231号 心拍計測方法および装置 新技術説明会 2016/08/18 2018/10/30 広島市立大学
29 特願2006-070053 特許第4257982号 歪分布計測システムと弾性率分布計測システム及びそれらの方法 新技術説明会 2016/07/08 2018/02/22 山口ＴＬＯ
30 特願2015-206611 特許第6677407号 断層構造の観測方法、観測装置、及びコンピュータプログラム 新技術説明会 2016/05/24 2020/05/26 和歌山大学
31 特願2015-129055 特許第5970682号 眼球計測装置、眼球計測方法 2016/03/29 2017/12/18 北里大学
32 特願2014-095015 特許第6366344号 ツールマーク照合システム 2016/01/27 2018/08/27 群馬大学
33 特願2014-109489 特許第6327641号 レーザ走査型干渉計を用いた表面形状の計測方法 新技術説明会 2015/10/21 2018/06/20 新潟大学
34 特願2013-215565 特許第6257072号 白色干渉計装置による表面形状の測定方法 2015/09/09 2018/01/18 筑波大学
35 特願2015-012697 特許第6472670号 一次元輝度分布検知装置 2015/08/03 2019/03/22 山口大学
36 特願2013-521307 特許第5892663号 自己位置推定装置、自己位置推定方法、自己位置推定プログラム、及び移動体 2015/06/17 2017/12/20 奈良先端科学技術大学院大学
37 特願2015-038571 特許第6420180号 表面検査装置および表面検査方法 2015/04/24 2020/12/01 岐阜大学
38 特願2013-049705 特許第6183826号 光散乱体の光学的測定方法、光学的測定装置及び光学的記録媒体 2015/02/26 2017/12/19 筑波大学
39 特願2013-026271 特許第5930984号 形状測定装置 2015/02/26 2017/12/18 埼玉医科大学
40 特願2013-501027 特許第5891567号 デジタルホログラフィ装置、及びデジタルホログラフィによる３次元像再生方法 2014/02/25 2017/12/20 京都工芸繊維大学
41 特願2010-550426 特許第5648193号 干渉計測装置および干渉計測方法 新技術説明会 2014/02/25 2018/01/19 京都工芸繊維大学
42 特願2010-122852 特許第5590665号 ナノメーター標準原器、標準試料、ナノメーター標準原器の製造方法、及び標準試料の製造方法 2013/08/05 2018/01/12 関西学院大学
43 特願2012-203488 特許第6014890号 動体の３次元運動検出装置及び検出方法 外国出願あり 2013/03/11 2017/12/27 奈良先端科学技術大学院大学
44 特願2009-255138 特許第5552707号 再生装置、干渉計測装置、制御プログラム、および記録媒体 新技術説明会 2012/11/19 2018/01/29 京都工芸繊維大学
45 特願2011-266969 特許第5892591号 三次元表面の計測装置及び方法 2012/07/25 2018/01/11 九州工業大学
46 特願2011-216588 特許第5294177号 ３次元形状データ処理方法、３次元形状データ処理装置 新技術説明会 2012/05/01 2018/01/10 岡山理科大学
47 特願2009-509256 特許第5330229号 変位計測方法、及び変位計測装置並びに変位計測用のターゲット 新技術説明会 2012/04/27 2018/01/29 京都大学
48 特願2011-156599 特許第5961938号 モノスペクトル・マーカならびにその検出方法および装置 新技術説明会 2012/02/28 2017/12/27 山梨大学
49 特願2011-185700 特許第5891554号 立体感提示装置および方法ならびにぼけ画像生成処理装置，方法およびプログラム 新技術説明会 2012/02/28 2017/12/27 山梨大学
50 特願2010-170670 特許第5614633号 回転工具と被加工物間の間隙長さ測定方法及びシステム 実績あり 外国出願あり 2012/02/21 2018/01/18 九州工業大学
51 特願2010-028734 特許第5410323号 光学的植生指数センサ 2011/11/28 2018/01/17 九州大学
52 特願2011-050094 特許第5751514号 球体の球径寸法測定方法及びその測定装置 新技術説明会 2011/11/04 2018/01/10 茨城大学
53 特願2006-535749 特許第3960618号 歯車の歯やねじのピッチの非接触測定法 外国出願あり 2011/08/18 2018/02/20 京都大学
54 特願2007-556824 特許第4385139号 変位検出方法、及び、変位検出装置、変位検出プログラム、並びに、位相特異点マッチング処理方法、位相特異点マッチング処理プログラム 外国出願あり 2011/08/18 2018/02/19 電気通信大学
55 特願2006-302150 特許第4923255号 円柱体の直径、屈折率、中心軸間距離及び入射光軸と間隔のなす角の測定方法およびこれを用いた装置 2011/08/18 2018/02/22 横浜国立大学
56 特願2006-212661 特許第4843788号 結晶方位同定方法及び結晶方位同定装置 2011/08/18 2018/02/21 岡山大学
57 特願2002-259323 特許第4302380号 深穴加工装置および深穴加工方法、深穴評価装置および深穴評価方法ならびに位置ずれ評価方法、深穴加工装置および深穴評価装置の光軸調整装置、光軸調整方法 2011/06/15 2018/03/19 科学技術振興機構（JST）
58 特願2001-316771 特許第3858056号 スペックルを用いた２方向変形同時計測装置 実績あり 2011/06/08 2018/03/19 科学技術振興機構（JST）
59 特願2001-572826 特許第4164261号 干渉計測装置 実績あり 2011/06/08 2020/12/01 科学技術振興機構（JST）
60 特願2009-204164 特許第5458262号 ひずみ計測方法、ひずみ計測装置およびプログラム 2011/04/08 2018/01/25 佐賀大学
61 特願2010-041039 特許第5371051号 視線計測装置、方法及びプログラム 新技術説明会 実績あり 2011/03/18 2018/01/17 神戸大学
62 特願2009-107207 特許第5258052号 位相シフト法による形状測定方法及び形状測定装置、並びに複素振幅計測方法及び複素振幅計測装置 2010/12/13 2018/01/25 宇都宮大学
63 特願2010-095569 特許第5743419号 形状測定方法及び装置並びに歪み測定方法及び装置 2010/12/13 2018/01/18 宇都宮大学
64 特願2008-247348 特許第5019478号 マーカ自動登録方法及びシステム 新技術説明会 2010/07/23 2018/02/02 原子力機構
65 特願2008-295062 特許第5294403号 三次元ＣＴ計測システム 新技術説明会 2010/06/11 2018/02/05 名古屋工業大学
66 特願2008-551020 特許第4930927号 ブレ測定システムおよびブレ測定方法 新技術説明会 外国出願あり 2010/05/28 2018/02/05 電気通信大学
67 特願2008-193047 特許第5322050号 マーカの３次元位置計測方法及びシステム 新技術説明会 2010/05/14 2018/02/02 原子力機構
68 特願2005-159249 特許第4102386号 ３次元情報復元装置 2010/04/23 2018/03/02 防衛省
69 特願2005-258340 特許第4161059号 拡散面一点微小変位自動計測処理装置 新技術説明会 2010/01/12 2018/02/28 豊田工業高等専門学校
70 特願2006-258651 特許第4945750号 拡散面の凹凸や変位を計測する装置及び方法 新技術説明会 2010/01/12 2018/02/22 豊田工業高等専門学校
71 特願2008-082590 特許第5146959号 視差センサおよび視差画像の生成方法 2009/12/04 2018/02/02 九州工業大学
72 特願2007-088868 特許第4821009号 エッジ検出によるモデルマッチングを用いたカメラ校正方法 2009/11/20 2018/02/19 九州工業大学
73 特願2007-072424 特許第4892687号 物体検出方法 新技術説明会 実績あり 2009/11/20 2018/02/19 九州工業大学
74 特願2006-239190 特許第4765075号 ステレオ画像を利用した物体の位置および姿勢認識システムならびに物体の位置および姿勢認識方法を実行するプログラム 新技術説明会 実績あり 2009/11/13 2018/02/20 九州工業大学
75 特願2008-558146 特許第4344869号 計測装置 2009/11/13 2020/03/23 早稲田大学
76 特願2009-054042 特許第5117430号 光分岐装置 新技術説明会 2009/06/26 2018/01/19 埼玉大学
77 特願2009-135191 特許第5581612号 位置計測システム及び位置計測方法 新技術説明会 2009/06/05 2018/01/29 静岡大学
78 特願2009-070372 特許第5278878号 管内面形状測定装置 2009/05/22 2018/01/29 宮崎大学
79 特願2006-067553 特許第4910128号 対象物表面の欠陥検査方法 新技術説明会 2008/12/05 2019/05/23 九州工業大学
80 特願2006-288631 特許第4742271号 リング共振器とブラッググレーティングを用いた光波長検波型物理量計測センサを有する計測システム 新技術説明会 2008/11/14 2018/02/15 長野工業高等専門学校
81 特願2007-042929 特許第4967130号 対象物測定装置 2008/09/12 2018/02/19 佐賀大学
82 特願2006-100211 特許第4431749号 顔姿勢検出方法 2008/06/13 2018/02/21 静岡大学
83 特願2006-100344 特許第4452833号 視線移動検出方法及び視線移動検出装置 2008/06/13 2018/02/21 静岡大学
84 特願2006-281251 特許第4742270号 変形特性を測定する方法及びそのための装置 2008/04/25 2018/02/22 山口ＴＬＯ
85 特願2003-547911 特許第3796585号 遅延時間変調型フェムト秒時間分解走査プローブ顕微鏡装置 2008/03/10 2018/03/16 科学技術振興機構（JST）
86 特願2006-219881 特許第4843789号 レーザスペックルによるナノメートル変位測定方法と装置 2008/03/10 2018/02/22 富山大学
87 特願2006-232597 特許第4910139号 流水領域検出システム、流水領域検出方法、及びプログラム 2008/03/10 2018/02/22 長岡技術科学大学
88 特願2002-046610 特許第3803750号 体積計測方法及び体積計測プログラム 2008/01/25 2018/03/20 防衛省
89 特願2002-080970 特許第3912667号 測角精度計測装置 2008/01/25 2018/03/20 防衛省
90 特願2006-167873 特許第4815597号 画像処理方法、画像処理装置および画像処理プログラム 2008/01/11 2018/02/22 富山大学
91 特願2006-125149 特許第4774517号 粒子計測装置および方法 2007/12/28 2018/02/15 埼玉大学
92 特願2002-379548 特許第4319834号 コンクリート表面及び建築物の外壁の撮像装置、並びにコンクリート表面及び建築物の外壁の撮像方法 2007/11/16 2018/06/20 鉄道総合技術研究所
93 特願2003-064268 特許第4056910号 磁気浮上式鉄道の地上コイルの画像処理式検測装置 2007/11/02 2020/05/26 鉄道総合技術研究所
94 特願2006-066507 特許第4810658号 接触検出装置及び接触検出方法 2007/10/26 2018/02/15 広島大学
95 特願2004-052910 特許第4474535号 立体形状測定及び分析装置 新技術説明会 2007/09/14 2018/03/07 四国ＴＬＯ
96 特願2004-039495 特許第4604190号 距離イメージセンサを用いた視線検出装置 2007/05/25 2018/03/09 静岡大学
97 特願2004-108817 特許第4238322号 オフセット低減機能をもつＴＯＦ距離センサ 2007/05/25 2018/03/09 静岡大学
98 特願2004-221031 特許第4332629号 量子化誤差を軽減する距離計測方法及び距離計測システム 新技術説明会 2007/05/25 2018/03/09 静岡大学
99 特願2005-207090 特許第4501003号 顔姿勢検出システム 2007/05/25 2018/02/27 静岡大学
100 特願2005-240479 特許第4644809号 対象物測定装置 2007/04/27 2018/03/05 佐賀大学

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