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該当件数 59件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2015-126296 特開2017-006070 細胞内膜構造形成方法および細胞内膜構造観察方法 NEW 新技術説明会 2019/06/13 2019/06/13 情報通信研究機構
2 特願2017-508258 WO2016152654 X線回折測定装置及びX線回折測定方法 2018/11/21 2018/11/21 京都大学
3 特願2007-551145 特許第4759750号 曲率分布結晶レンズの製造方法、偏光制御装置、X線反射率測定装置およびX線反射率測定方法 2018/11/21 2018/11/21 京都大学
4 特願2006-532583 特許第4710022号 曲率分布結晶レンズ、曲率分布結晶レンズを有するX線装置及び曲率分布結晶レンズの作製方法 2018/11/21 2018/11/21 京都大学
5 特願2014-544557 特許第6179994号 元素分析装置 2018/11/21 2018/11/21 京都大学
6 特願2017-054108 特開2018-155680 カセット装填装置 2018/11/01 2019/02/22 高エネルギー加速器研究機構
7 特願2010-227866 特許第5585959号 マウント装置 2018/10/02 2018/10/31 理化学研究所
8 特願2016-089094 特開2017-199540 傾斜支持台付き標準試料、走査型電子顕微鏡の評価方法、及びSiC基板の評価方法 外国出願あり 2018/01/24 2018/02/26 関西学院大学
9 特願2016-553052 特許第6245715号 スピン偏極電子線のコヒーレンス測定装置と、その利用方法 コモンズ 2017/08/24 2017/12/21 名古屋大学
10 特願2016-538444 WO2016017770 回折データの解析方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 2017/08/16 2017/08/16 科学技術振興機構(JST)
11 特願2016-105618 特開2017-211319 応力測定方法及び応力測定装置 2017/07/12 2018/02/27 金沢大TLO
12 特願2015-130466 特開2017-015468 X線回折装置 新技術説明会 2017/07/12 2017/07/19 金沢大TLO
13 特願2015-559988 特許第6452630号 含水状態の生物試料の電子顕微鏡観察用保護剤、電子顕微鏡観察用キット、電子顕微鏡による観察、診断、評価、定量の方法並びに試料台 新技術説明会 2017/06/23 2019/02/22 科学技術振興機構(JST)
14 特願2009-002068 特許第5484737号 軟X線分光装置 2017/06/14 2018/01/25 理化学研究所
15 特願2014-533051 特許第6164748号 核物質探知装置及び核物質探知方法 2016/11/04 2017/12/19 京都大学
16 特願2016-025306 特開2017-142217 撮影装置、及び、撮影方法 2016/08/22 2017/11/21 京都工芸繊維大学
17 特願2015-036074 特開2015-179082 走査型電子顕微鏡観察コントラスト校正用標準試料及び走査型電子顕微鏡を用いた結晶性基板の検査方法 2016/04/19 2016/04/19 関西学院大学
18 特願2015-117985 特開2017-003442 分析装置及び分析システム 2016/01/25 2017/05/08 筑波大学
19 特願2015-050553 特開2016-170080 マイクロ断層可視化方法およびシステム 新技術説明会 2015/11/02 2017/01/04 大阪市立大学
20 特願2013-198163 特許第6411722号 磁気特性測定方法 2015/09/04 2018/11/19 高エネルギー加速器研究機構
21 特願2014-213211 特許第5842242号 回折環分析方法および回折環分析装置 2015/09/01 2017/12/20 金沢大TLO
22 特願2013-216799 特許第6313010号 回折環計測装置 新技術説明会 2015/09/01 2018/05/22 金沢大TLO
23 特願2012-150939 特許第6011846号 X線応力測定方法 2015/09/01 2017/12/25 金沢大TLO
24 特願2014-167309 特開2016-045000 X線強度変調法及びX線偏光状態分析法 コモンズ 2015/03/24 2016/08/03 信州大学
25 特願2012-273064 特許第6206901号 散乱強度分布の測定方法及び測定装置 2015/02/18 2017/12/27 高エネルギー加速器研究機構
26 特願2003-047422 特許第4154689号 プラスチック標準物質およびその製造方法 2014/10/30 2018/03/15 明治大学
27 特願2013-049697 特許第6179885号 核分裂性物質量の測定方法、及び測定装置 2014/10/10 2017/12/20 原子力機構
28 特願2009-047165 特許第5489032号 ビーム量測定機能に優れたイオンビーム分析装置 2014/06/06 2018/01/25 若狭湾エネルギー研究センター
29 特願2013-142594 特許第6114938号 X線回折装置一体型雰囲気制御グローブボックス装置、およびその製造方法 2014/02/28 2017/12/19 京都大学
30 特願2012-032066 特許第5919024号 薄膜試料の比表面積測定方法及び装置 2014/02/27 2017/12/21 広島大学
31 特願2012-071442 特許第5904835号 試料保持装置および試料分析方法 コモンズ 新技術説明会 2013/10/28 2017/12/25 関西学院大学
32 特願2012-063526 特許第5975462号 アブレーション装置及び3次元電子顕微鏡 2013/10/17 2017/12/25 九州大学
33 特願2009-530180 特許第4973960号 曲率分布結晶レンズおよびX線反射率測定装置 外国出願あり 2013/07/10 2018/01/29 京都大学
34 特願2011-502802 特許第5403767号 原子核共鳴蛍光散乱を用いた非破壊検査システム 外国出願あり 2013/07/10 2018/01/17 京都大学
35 特願2008-223054 特許第5339584号 電子透過膜及びその製造方法 コモンズ 2013/05/08 2018/01/30 常翔学園
36 特願2007-514601 特許第4568801号 フレネルゾーンプレート及び該フレネルゾーンプレートを使用したX線顕微鏡 2012/11/19 2018/02/19 京都工芸繊維大学
37 特願2009-181704 特許第5626750号 測定装置及び測定方法 2012/11/01 2018/01/29 広島大学
38 特願2011-033264 特許第5834422号 微粒子配向装置及び微粒子配向方法 新技術説明会 2012/09/28 2018/01/17 京都大学
39 特願2010-527698 特許第5846469号 全反射蛍光X線分析装置及び全反射蛍光X線分析方法 新技術説明会 実績あり 2012/06/14 2018/01/18 京都大学
40 特願2010-232524 特許第5641503号 マルチステップ・ラティス・ボクセル法 2012/05/14 2019/01/21 筑波大学
41 特願2005-263339 特許第4825972号 脈理を有する材料の漏洩弾性表面波速度と化学組成比および線膨張係数との関係を求める方法、およびその関係を使ったTiO2-SiO2ガラスのTiO2濃度測定方法および線膨張係数測定方法 コモンズ 2011/08/18 2018/03/05 東北大学
42 特願2009-075788 特許第5646147号 二次元分布を測定する方法及び装置 コモンズ 新技術説明会 2011/08/12 2018/01/25 大阪市立大学
43 特願2010-502901 特許第5346918号 局所電界分布可視化方法とその装置 2011/07/25 2018/01/15 科学技術振興機構(JST)
44 特願2009-118868 特許第5429861号 走査型リアルタイム顕微システムおよび走査型X線高速描画システム 2011/07/12 2018/01/25 科学技術振興機構(JST)
45 特願2011-022414 特許第5747406号 金属層の結晶粒径及び粒径分布評価方法並びにそれを用いた半導体集積回路装置の製造方法 新技術説明会 2011/05/09 2018/01/10 茨城大学
46 特願2004-356564 特許第4587290号 X線透過窓、X線吸収微細構造測定用セルおよび反応システム 2010/02/19 2018/03/13 北海道大学
47 特願2009-196289 特許第5429797号 位置敏感時間分析型検出器、その作製方法およびそれを用いた三次元中エネルギーイオン散乱装置 2010/01/22 2018/01/25 理化学研究所
48 特願2009-173619 特許第5339253号 X線応力測定方法 新技術説明会 実績あり 2009/07/31 2018/01/23 金沢大TLO
49 特願2006-270971 特許第5292568号 非破壊硬さ評価方法、非破壊硬さ評価装置および非破壊硬さ評価に用いられる硬さ測定装置 コモンズ 新技術説明会 2008/06/13 2018/02/21 静岡大学
50 特願2004-339792 特許第4649607号 小型可変エネルギー単色コヒーレントマルチX線発生装置 2008/03/14 2018/02/28 日大NUBIC
51 特願2006-021031 特許第4774544号 パラメトリックX線を利用したアンギオグラフィーシステム 2008/03/14 2018/02/15 日大NUBIC
52 特願2006-131238 特許第5105342号 パルス中性子非弾性散乱実験の高効率測定方法 2008/02/15 2018/02/22 原子力機構
53 特願2003-314462 特許第3968436号 オージェー光電子コインシデンス分光器、及びオージェー光電子コインシデンス分光法 2007/11/30 2018/03/15 高エネルギー加速器研究機構
54 特願2004-048761 特許第4276106号 X線回折装置及びX線回折システム 新技術説明会 2007/10/26 2018/03/09 鉄道総合技術研究所
55 特願2003-020979 特許第3762993号 原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡 2007/09/14 2018/03/15 奈良先端科学技術大学院大学
56 特願2003-165776 特許第3637394号 結晶の対掌性識別方法 コモンズ 2006/04/07 2018/03/15 京都大学
57 特願平11-300700 特許第3585789号 陽電子を用いた材料評価装置および評価方法 2003/12/22 2018/08/28 科学技術振興機構(JST)
58 特願2000-130224 特許第3383842号 散乱ターゲット保持機構及び電子スピン分析器 2003/05/27 2012/04/05 北海道大学
59 特願2000-133700 特許第3757263号 電子スピン分析器 2003/05/27 2013/04/22 北海道大学

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