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※未公開特許出願は対象外です。


該当件数 31件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2019-517552 WO2018207613 撮像システム、及び撮像方法 新技術説明会 外国出願あり 2020/08/11 2020/08/11 東京工業大学
2 特願2019-511287 WO2018186448 多波長光照射装置 新技術説明会 2020/08/05 2020/08/05 豊橋技術科学大学(とよはしTLO)
3 特願2017-111416 特開2018-205156 誘電分光装置 2020/04/14 2020/05/21 京都大学
4 特願2017-222322 特開2019-095220 分光解析装置及び分光解析方法 実績あり 外国出願あり 2020/04/09 2020/05/21 京都大学
5 特願2019-110453 特開2019-220176 画像処理装置及び方法 2020/02/25 2020/05/26 情報・システム研究機構 国立情報学研究所
6 特願2018-142832 特開2020-020606 分光測定装置及び分光測定ユニット 2020/02/25 2020/07/01 香川大学
7 特願2018-112764 特開2019-215262 分光測定装置及び分光測定方法 2020/02/25 2020/05/26 香川大学
8 特願2017-565879 特許第6321895号 スペクトルカメラ制御装置、スペクトルカメラ制御プログラム、スペクトルカメラ制御システム、このシステムを搭載した飛行体およびスペクトル画像撮像方法 2019/01/24 2019/01/24 北海道大学
9 特願2018-107401 特開2019-211326 フォトニック結晶素子およびそれを備えた分光システム、被検出物質の検出キットおよび検出システム、ならびに、フォトニック結晶素子の製造方法 新技術説明会 2018/12/19 2020/05/27 大阪府立大学
10 特願2017-527514 特許第6732339号 分光測定装置 UPDATE 2018/05/23 2020/08/24 香川大学
11 特願2016-571942 特許第6660634号 分光測定装置および分光測定方法 2017/12/21 2020/03/18 四国TLO
12 特願2016-040357 特開2017-156245 分光測定装置 2017/10/04 2019/12/25 香川大学
13 特願2015-500127 特許第6281983号 赤外光スペクトル計測装置及び方法 2017/06/26 2018/03/13 自然科学研究機構(NINS)
14 特願2015-083763 特開2016-205839 画像解析装置および検査システム 新技術説明会 外国出願あり 2016/12/28 2020/03/18 広島県立総合技術研究所
15 特願2014-539680 特許第5765693号 分光特性測定装置 2016/11/02 2017/12/15 香川大学
16 特願2014-539798 特許第5881051号 分光特性測定装置 2016/11/02 2017/12/15 香川大学
17 特願2013-106952 特許第6200690号 肉色の等級決定方法 新技術説明会 2016/01/20 2017/12/15 帯広畜産大学
18 特願2015-015735 特許第6482886号 分光特性測定装置及びその調整方法 2015/02/17 2019/04/22 香川大学
19 特願2015-015733 特許第6385288号 分光特性測定装置 2015/02/17 2018/09/20 香川大学
20 特願2012-034442 特許第6025013号 波形再構成装置、波形再構成システム及び波形再構成方法 2013/09/27 2018/01/16 大阪大学
21 特願2005-251718 特許第4719879号 和周波発生分光装置及び和周波発生分光法 2012/11/01 2018/02/26 広島大学
22 特願2007-084832 特許第4654446号 アバランシェフォトダイオードを用いた波長スペクトル検出方法 2011/11/15 2018/02/09 長野工業高等専門学校
23 特願2007-523340 特許第4714882号 ブラッググレーティングの構造の同定方法および装置ならびにその作成方法 外国出願あり 2011/09/13 2020/01/06 山梨大学
24 特願2011-043171 特許第5648961号 分光特性測定装置及びその校正方法 2011/09/02 2017/12/28 香川大学
25 特願2006-352905 特許第4961555号 植物の対象部分の位置特定方法とその方法による対象部分の位置特定装置及びその装置を用いた作業用ロボット 2011/08/18 2018/02/22 宇都宮大学
26 特願2004-232541 特許第4403272号 分光計測方法及び分光計測装置 2011/08/18 2018/03/07 岡山大学
27 特願2003-143476 特許第3940376号 ゲル状試料用分光測定装置 2011/06/17 2018/03/16 科学技術振興機構(JST)
28 特願2008-076557 特許第5170748号 離散スペクトルのスペクトル位相計測装置、及び、離散スペクトルのスペクトル位相計測方法 新技術説明会 2011/04/26 2018/02/05 電気通信大学
29 特願2005-317352 特許第5109112号 偏光解析システム 新技術説明会 2007/05/25 2018/02/28 長岡技術科学大学
30 特願2005-059503 特許第4701385号 光学特性測定装置、光学特性測定方法、並びに、それに用いるプログラムおよび記録媒体 2006/09/22 2018/03/05 北海道大学
31 特願2002-012232 特許第3613578号 液晶光学計測装置及びそれを用いた光学計測測定システム 2005/03/18 2018/03/20 JAXA

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