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※未公開特許出願は対象外です。


該当件数 14件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2017-066163 特開2018-170853 太陽光発電モジュール評価方法、評価装置および評価プログラム 2018/11/22 2019/02/21 奈良先端科学技術大学院大学
2 特願2017-170670 特開2019-045398 スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置 UPDATE コモンズ 2018/06/13 2019/04/23 福井大学
3 特願2015-208902 特開2017-083523 撮影装置及び撮影方法、並びに枝肉の肉質評価方法 新技術説明会 2017/06/14 2017/08/22 帯広畜産大学
4 特願2015-083763 特開2016-205839 画像解析装置および検査システム 新技術説明会 外国出願あり 2016/12/28 2017/03/24 広島県立総合技術研究所
5 特願2015-038571 特許第6420180号 表面検査装置および表面検査方法 コモンズ 2015/04/24 2018/11/20 岐阜大学
6 特願2012-164424 特許第6031724号 無機材又は金属材の蛍光浸透探傷方法 2015/02/16 2017/12/27 九州工業大学
7 特願2011-179268 特許第5888639号 色彩画像撮像・解析システム 新技術説明会 2012/04/17 2018/01/11 三重大学
8 特願2006-073755 特許第4810659号 外観検査装置、外観検査方法、外観検査プログラム及びそれを記録した情報記録媒体 コモンズ 2011/08/18 2018/02/22 宇都宮大学
9 特願2007-081132 特許第4967132号 対象物表面の欠陥検査方法 コモンズ 新技術説明会 2009/11/20 2018/02/19 九州工業大学
10 特願2009-106852 特許第5557368号 半導体検査装置及び半導体検査方法 2009/08/07 2018/01/25 東京電機大学
11 特願2007-178626 特許第5126709号 貝分別方法 2009/02/20 2018/02/08 島根大学
12 特願2006-067553 特許第4910128号 対象物表面の欠陥検査方法 新技術説明会 2008/12/05 2018/02/20 九州工業大学
13 特願2006-334101 特許第4967125号 部材表面検査装置及び部材表面検査方法 新技術説明会 2008/07/04 2018/02/15 広島大学
14 特願2006-254418 特許第4992081号 画像処理により対象物の表面状態を検査する方法及びそのための画像処理プログラム 新技術説明会 2008/04/04 2018/02/22 山口TLO

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