TOP > 国内特許検索

国内特許検索

表示件数 詳細検索
特許の状態
データ提供機関
出願人
IPC
Fターム
マークによる絞込み
データ選択
カレンダー表示 カレンダー表示
番号選択
表示オプション 表示順

リセット


※未公開特許出願は対象外です。


該当件数 16件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2015-532785 特許第6297575号 再構成可能な遅延回路、並びにその遅延回路を用いた遅延モニタ回路、ばらつき補正回路、ばらつき測定方法及びばらつき補正方法 2017/06/23 2018/03/28 科学技術振興機構(JST)
2 特願2016-543089 特許第6218297号 半導体集積回路及び遅延測定回路 2017/05/29 2017/12/19 千葉大学
3 特願2012-537651 特許第5845187号 故障検出システム、取出装置、故障検出方法、プログラム及び記録媒体 2016/03/10 2017/12/21 科学技術振興機構(JST)
4 特願2014-516759 特許第6223967号 故障検出システム、生成回路及びプログラム 新技術説明会 2016/02/10 2017/12/18 科学技術振興機構(JST)
5 特願2013-553292 特許第5988443号 テストパターン生産装置、故障検出システム、テストパターン生産方法、プログラム及び記録媒体 2015/11/19 2017/12/18 科学技術振興機構(JST)
6 特願2014-146027 特許第6391336号 スキャンBISTのLFSRシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体 新技術説明会 2015/10/21 2018/10/31 大分大学
7 特願2013-090307 特許第6041213号 放電発生状況評価装置及び評価方法 新技術説明会 2015/02/19 2017/12/21 九州工業大学
8 特願2012-520292 特許第5761819号 スキャン非同期記憶素子およびそれを備えた半導体集積回路ならびにその設計方法およびテストパターン生成方法 2013/11/25 2017/12/27 奈良先端科学技術大学院大学
9 特願2010-525650 特許第5311351号 生成装置、生成方法及びプログラム 実績あり 2012/01/30 2018/01/18 九州工業大学
10 特願2008-317927 特許第5171595号 回路入力及び回路状態評価方法並びに評価装置 コモンズ 新技術説明会 2011/08/18 2018/01/30 首都大学東京
11 特願2006-262764 特許第5017604号 生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 2011/06/30 2018/02/20 九州工業大学
12 特願2006-301012 特許第5035663号 診断装置、診断方法、その診断方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 2011/06/30 2018/02/20 九州工業大学
13 特願2005-346613 特許第5017603号 変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 2011/06/23 2018/03/02 九州工業大学
14 特願2008-522609 特許第4482622号 変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 実績あり 2011/03/10 2018/02/02 九州工業大学
15 特願2010-092911 特許第4919237号 半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラム 実績あり 2011/03/09 2018/01/18 九州工業大学
16 特願2004-181913 特許第4544620号 光再構成型ゲートアレイの書込状態検査方法及び書込状態検査装置、並びに光再構成型ゲートアレイ 実績あり 外国出願あり 2006/02/24 2018/03/13 九州工業大学

(1/1ページ)

  • 1

PAGE TOP