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※未公開特許出願は対象外です。


該当件数 4件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2017-053824 特開2018-153898 接触力調整エンドエフェクタ 2018/11/26 2020/01/17 早稲田大学
2 特願2016-202457 特許第6650859号 半導体基板の表面皮膜の厚さ測定方法 UPDATE 新技術説明会 2018/10/29 2020/03/23 九州工業大学
3 特願2014-521474 特許第5874074号 観察撮影装置 2016/03/29 2017/12/20 鹿児島大学
4 特願2006-535212 特許第4882069号 ワークの表面状態検出方法及び表面状態検出装置 新技術説明会 外国出願あり 2011/08/18 2018/02/21 岡山大学

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