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※未公開特許出願は対象外です。


該当件数 12件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2020-507917 WO2019182097 磁性体観察方法および磁性体観察装置 新技術説明会 2021/05/07 2021/05/07 量子科学技術研究開発機構
2 特願2018-508074 特許第6842718号 位相差走査透過電子顕微鏡装置 2019/05/24 2021/04/20 自然科学研究機構(NINS)
3 特願2015-251027 特許第6614492号 バイプリズム装置、及び荷電粒子線装置 2018/10/02 2020/11/19 理化学研究所
4 特願2017-528715 特許第6757036号 静電レンズ、並びに、該レンズとコリメータを用いた平行ビーム発生装置及び平行ビーム収束装置 新技術説明会 2018/05/24 2020/11/20 奈良先端科学技術大学院大学
5 特願2016-089094 特許第6664133号 傾斜支持台付き標準試料、その製造方法、走査型電子顕微鏡の評価方法、及びSiC基板の評価方法 外国出願あり 2018/01/24 2020/11/19 関西学院大学
6 特願2012-508141 特許第5626694号 電子顕微鏡 2016/03/10 2020/12/02 科学技術振興機構(JST)
7 特願2013-532684 特許第6055766号 生物試料をそのままの姿で観察するための電子顕微鏡による観察方法とそれに用いられる真空下での蒸発抑制用組成物、走査型電子顕微鏡および透過型電子顕微鏡 新技術説明会 2015/06/22 2021/03/11 科学技術振興機構(JST)
8 特願2012-063526 特許第5975462号 アブレーション装置及び3次元電子顕微鏡 2013/10/17 2020/11/20 九州大学
9 特願2010-134729 特許第5688632号 対物レンズ系及び電子顕微鏡 2012/10/26 2020/11/20 自然科学研究機構(NINS)
10 特願2009-073929 特許第5527680号 スピン偏極電子発生素子 新技術説明会 2012/02/14 2020/12/02 科学技術振興機構(JST)
11 特願2008-101984 特許第5181150号 表面分析方法 外国出願あり 2011/03/24 2020/11/19 神戸大学
12 特願2006-513733 特許第4852758号 電子顕微方法およびそれを用いた電子顕微鏡 2010/02/19 2020/11/26 北海道大学

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