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※未公開特許出願は対象外です。


該当件数 14件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2015-251027 特開2017-117612 バイプリズム装置、及び荷電粒子線装置 2018/10/02 2018/10/31 理化学研究所
2 特願2010-227866 特許第5585959号 マウント装置 2018/10/02 2018/10/31 理化学研究所
3 特願2017-528715 WO2017010529 静電レンズ、並びに、該レンズとコリメータを用いた平行ビーム発生装置及び平行ビーム収束装置 新技術説明会 2018/05/24 2018/05/24 奈良先端科学技術大学院大学
4 特願2017-515399 特許第6351196号 荷電粒子ビーム用電磁レンズの球面収差補正装置 コモンズ 2018/05/23 2018/07/19 名古屋大学
5 特願2016-089094 特開2017-199540 傾斜支持台付き標準試料、走査型電子顕微鏡の評価方法、及びSiC基板の評価方法 外国出願あり 2018/01/24 2018/02/26 関西学院大学
6 特願2016-553052 特許第6245715号 スピン偏極電子線のコヒーレンス測定装置と、その利用方法 コモンズ 2017/08/24 2017/12/21 名古屋大学
7 特願2012-508141 特許第5626694号 電子顕微鏡 2016/03/10 2017/12/21 科学技術振興機構(JST)
8 特願2013-532684 特許第6055766号 生物試料をそのままの姿で観察するための電子顕微鏡による観察方法とそれに用いられる真空下での蒸発抑制用組成物、走査型電子顕微鏡および透過型電子顕微鏡 新技術説明会 2015/06/22 2018/04/18 科学技術振興機構(JST)
9 特願2012-063526 特許第5975462号 アブレーション装置及び3次元電子顕微鏡 2013/10/17 2017/12/25 九州大学
10 特願2010-134729 特許第5688632号 対物レンズ系及び電子顕微鏡 2012/10/26 2018/01/17 自然科学研究機構(NINS)
11 特願2009-073929 特許第5527680号 スピン偏極電子発生素子 新技術説明会 2012/02/14 2018/01/25 科学技術振興機構(JST)
12 特願2006-513733 特許第4852758号 電子顕微方法およびそれを用いた電子顕微鏡 2010/02/19 2018/02/22 北海道大学
13 特願2000-130224 特許第3383842号 散乱ターゲット保持機構及び電子スピン分析器 2003/05/27 2012/04/05 北海道大学
14 特願2000-133700 特許第3757263号 電子スピン分析器 2003/05/27 2013/04/22 北海道大学

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