TOP > 国内特許検索

国内特許検索

表示件数 詳細検索
特許の状態
データ提供機関
出願人
IPC
Fターム
マークによる絞込み
データ選択
カレンダー表示 カレンダー表示
番号選択
表示オプション 表示順

リセット


※未公開特許出願は対象外です。


該当件数 20件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2016-018817 特開2017-139314 半導体集積回路装置 2019/02/22 2019/12/26 慶應義塾大学
2 特願2016-009104 特開2017-130556 半導体装置及び半導体装置の製造方法 2018/11/22 2020/01/21 京都大学
3 特願2014-086117 特許第6327639号 直交型ソレノイドインダクタ 2018/11/21 2018/11/21 京都大学
4 特願2014-086116 特許第6327638号 ソレノイドインダクタ 2018/11/21 2018/11/21 京都大学
5 特願2014-561596 特許第6272242号 有機薄膜を用いた電子デバイス、及びそれを含有してなる電子機器 2018/04/17 2018/04/17 科学技術振興機構(JST)
6 特願2015-506721 特許第6247684号 誘電体層及び誘電体層の製造方法、並びに固体電子装置及び固体電子装置の製造方法 2018/04/17 2018/04/17 科学技術振興機構(JST)
7 特願2015-535332 特許第6283963号 電極対、その作製方法、デバイス用基板及びデバイス 2017/06/23 2018/03/15 科学技術振興機構(JST)
8 特願2016-543089 特許第6218297号 半導体集積回路及び遅延測定回路 2017/05/29 2017/12/19 千葉大学
9 特願2015-020892 特許第6580333号 LSIチップ及びネットワークシステム 2016/07/25 2019/10/21 奈良女子大学
10 特願2015-247449 特開2017-112310 半導体の抵抗異常検出装置 2016/07/14 2019/12/25 関西大学
11 特願2012-537651 特許第5845187号 故障検出システム、取出装置、故障検出方法、プログラム及び記録媒体 2016/03/10 2017/12/21 科学技術振興機構(JST)
12 特願2014-146027 特許第6391336号 スキャンBISTのLFSRシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体 新技術説明会 2015/10/21 2018/10/31 大分大学
13 特願2012-551404 特許第5293983号 固体電子装置 新技術説明会 2015/02/24 2017/12/21 科学技術振興機構(JST)
14 特願2012-130188 特許第5360786号 高周波用配線構造体、高周波用実装基板、高周波用配線構造体の製造方法および高周波信号の波形整形方法 2013/12/20 2017/12/25 筑波大学
15 特願2011-245922 特許第5901942号 機能性デバイスの製造方法及び機能性デバイスの製造装置 2013/05/30 2018/01/12 科学技術振興機構(JST)
16 特願2011-149418 特許第5783529号 グラフェン素材の製造方法 2013/04/09 2018/01/09 名城大学
17 特願2011-065061 特許第5854377号 MOSトランジスタ集積回路およびMOSトランジスタ劣化度合模擬算出システム 2012/11/01 2018/01/11 首都大学東京
18 特願2010-029084 特許第4543193号 半導体装置 新技術説明会 2010/08/31 2018/01/15 明治大学
19 特願2007-041018 特許第5272172号 半導体装置 2010/06/18 2018/02/16 北海道大学
20 特願2003-390010 特許第4972270号 高周波用配線構造及び高周波用配線構造の形成方法並びに高周波信号の波形整形方法 新技術説明会 2005/06/24 2018/03/16 科学技術振興機構(JST)

(1/1ページ)

  • 1

PAGE TOP