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該当件数 137件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2005-005824 特許第4729694号 液体下の表面形状測定方法及びそのシステム 2017/07/07 2018/03/05 NIES
2 特願2002-013249 特許第4310606号 光ファイバ型センサおよび光ファイバ型センサシステム 新技術説明会 2010/02/05 2018/03/20 タマティーエルオー
3 特願2010-088129 特許第5433883号 光ファイバセンサ及びこれを備えた検出装置 2012/05/09 2018/01/19 タマティーエルオー
4 特願2010-028734 特許第5410323号 光学的植生指数センサ 2011/11/28 2018/01/17 九州大学
5 特願2006-067553 特許第4910128号 対象物表面の欠陥検査方法 新技術説明会 2008/12/05 2019/05/23 九州工業大学
6 特願2006-239190 特許第4765075号 ステレオ画像を利用した物体の位置および姿勢認識システムならびに物体の位置および姿勢認識方法を実行するプログラム 新技術説明会 実績あり 2009/11/13 2018/02/20 九州工業大学
7 特願2007-088868 特許第4821009号 エッジ検出によるモデルマッチングを用いたカメラ校正方法 2009/11/20 2018/02/19 九州工業大学
8 特願2008-082590 特許第5146959号 視差センサおよび視差画像の生成方法 コモンズ 2009/12/04 2018/02/02 九州工業大学
9 特願2010-170670 特許第5614633号 回転工具と被加工物間の間隙長さ測定方法及びシステム 実績あり 外国出願あり 2012/02/21 2018/01/18 九州工業大学
10 特願2011-266969 特許第5892591号 三次元表面の計測装置及び方法 2012/07/25 2018/01/11 九州工業大学
11 特願2007-072424 特許第4892687号 物体検出方法 コモンズ 新技術説明会 実績あり 2009/11/20 2018/02/19 九州工業大学
12 特願2016-047872 特開2017-161436 微粒子の3D位置特定装置及び特定方法 コモンズ 新技術説明会 2018/10/29 2018/11/20 九州工業大学
13 特願2005-174118 特許第4521568号 対応点探索方法、相互標定方法、3次元画像計測方法、対応点探索装置、相互標定装置、3次元画像計測装置、対応点探索プログラム及び対応点探索プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 2007/02/23 2018/03/05 京都大学
14 特願2006-535749 特許第3960618号 歯車の歯やねじのピッチの非接触測定法 コモンズ 外国出願あり 2011/08/18 2018/02/20 京都大学
15 特願2009-509256 特許第5330229号 変位計測方法、及び変位計測装置並びに変位計測用のターゲット 新技術説明会 2012/04/27 2018/01/29 京都大学
16 特願2012-111619 特許第5916509号 気液2相流パラメータ測定装置及びコンピュータプログラム 2013/12/16 2017/12/21 京都大学
17 特願2015-125914 特許第6355206号 カメラキャリブレーション方法、カメラキャリブレーション装置及びカメラキャリブレーションプログラム 2018/11/22 2018/11/22 京都大学
18 特願2015-549192 特許第6508723号 データステッチング装置、データステッチング方法、及びコンピュータプログラム 実績あり 2018/11/22 2019/05/24 京都大学
19 特願2016-205443 特開2018-066655 鏡面情報取得装置、鏡面測定方法及びコンピュータプログラム 2018/11/22 2018/11/22 京都大学
20 特願2009-255138 特許第5552707号 再生装置、干渉計測装置、制御プログラム、および記録媒体 新技術説明会 2012/11/19 2018/01/29 京都工芸繊維大学
21 特願2013-501027 特許第5891567号 デジタルホログラフィ装置、及びデジタルホログラフィによる3次元像再生方法 2014/02/25 2017/12/20 京都工芸繊維大学
22 特願2010-550426 特許第5648193号 干渉計測装置および干渉計測方法 新技術説明会 2014/02/25 2018/01/19 京都工芸繊維大学
23 特願2014-539666 特許第6192017号 デジタルホログラフィ装置 2016/11/02 2017/12/20 京都工芸繊維大学
24 特願2005-240479 特許第4644809号 対象物測定装置 2007/04/27 2018/03/05 佐賀大学
25 特願2007-042929 特許第4967130号 対象物測定装置 2008/09/12 2018/02/19 佐賀大学
26 特願2009-204164 特許第5458262号 ひずみ計測方法、ひずみ計測装置およびプログラム 2011/04/08 2018/01/25 佐賀大学
27 特願2015-542908 特許第6474134号 亀裂検出システム及び亀裂検出方法 2017/04/07 2019/03/12 佐賀大学
28 特願2000-138283 特許第3385362号 レーザ溶接ヘッド制御システムおよびこれを具えるレーザ溶接ヘッド 2003/05/27 2015/10/13 北海道大学
29 特願2014-538203 特許第6202499号 光位相測定方法、光位相測定装置および光通信装置 2016/11/04 2017/12/20 北海道大学
30 特願2015-129055 特許第5970682号 眼球計測装置、眼球計測方法 2016/03/29 2017/12/18 北里大学
31 特願2001-048483 特許第5115912号 高速ゲート掃引型3次元レーザーレーダー装置 2005/03/09 2018/03/20 原子力機構
32 特願2004-026362 特許第4229325号 ピーク検出画像処理方法、プログラム及び装置 2006/06/08 2018/03/13 原子力機構
33 特願2008-193047 特許第5322050号 マーカの3次元位置計測方法及びシステム 新技術説明会 2010/05/14 2018/02/02 原子力機構
34 特願2008-247348 特許第5019478号 マーカ自動登録方法及びシステム 新技術説明会 2010/07/23 2018/02/02 原子力機構
35 特願2008-032333 特許第5035904号 膜厚分布測定装置 コモンズ 2009/08/28 2018/02/02 名古屋大学
36 特願2010-024491 特許第5397817号 干渉測定装置および測定方法 外国出願あり 2010/05/14 2018/01/19 名古屋大学
37 特願2010-180928 特許第5660531号 形状計測装置、及び形状計測方法 2010/10/27 2018/01/19 名古屋大学
38 特願2008-295062 特許第5294403号 三次元CT計測システム 新技術説明会 2010/06/11 2018/02/05 名古屋工業大学
39 特願2000-070269 特許第3446020号 形状計測方法 2003/05/27 2012/04/05 和歌山大学
40 特願2001-089799 特許第3629532号 連続移動物体のリアルタイム形状計測方法及びシステム 2003/08/28 2018/03/20 和歌山大学
41 特願2001-195032 特許第3475245号 縞位相解析方法 新技術説明会 2003/08/28 2018/03/20 和歌山大学
42 特願2001-315178 特許第3500430号 単色矩形波格子を用いる形状計測方法及び形状計測装置 2003/08/28 2018/03/20 和歌山大学
43 特願2001-026564 特許第3507865号 DMDを用いたCCDカメラによる実時間形状計測方法と装置 新技術説明会 2003/08/28 2018/03/20 和歌山大学
44 特願2000-279457 特許第3554816号 矩形波格子投影によるリアルタイム形状変形計測方法 新技術説明会 2003/08/28 2012/04/06 和歌山大学
45 特願2015-206611 特開2017-078632 断層構造の観測方法、観測装置、及びコンピュータプログラム 新技術説明会 2016/05/24 2017/07/28 和歌山大学
46 特願2004-052910 特許第4474535号 立体形状測定及び分析装置 コモンズ 新技術説明会 2007/09/14 2018/03/07 四国TLO
47 特願2013-026271 特許第5930984号 形状測定装置 2015/02/26 2017/12/18 埼玉医科大学
48 特願2002-275775 特許第3955899号 電子的スペックル干渉法を用いた変形計測方法および装置 コモンズ 2004/06/04 2018/03/19 埼玉大学
49 特願2006-125149 特許第4774517号 粒子計測装置および方法 コモンズ 2007/12/28 2018/02/15 埼玉大学
50 特願2009-054042 特許第5117430号 光分岐装置 コモンズ 新技術説明会 2009/06/26 2018/01/19 埼玉大学
51 特願2016-544258 WO2016027874 応力可視化装置および力学物性値可視化装置 新技術説明会 2017/06/26 2017/06/30 大阪市立大学
52 特願2003-174479 特許第4328136号 関心度推定装置 2007/09/14 2018/03/15 奈良先端科学技術大学院大学
53 特願2006-248363 特許第4674725号 移動物体計測装置、移動物体計測システム、および移動物体計測方法 2007/09/14 2018/02/22 奈良先端科学技術大学院大学
54 特願2012-203488 特許第6014890号 動体の3次元運動検出装置及び検出方法 コモンズ 外国出願あり 2013/03/11 2017/12/27 奈良先端科学技術大学院大学
55 特願2013-521307 特許第5892663号 自己位置推定装置、自己位置推定方法、自己位置推定プログラム、及び移動体 2015/06/17 2017/12/20 奈良先端科学技術大学院大学
56 特願2009-107207 特許第5258052号 位相シフト法による形状測定方法及び形状測定装置、並びに複素振幅計測方法及び複素振幅計測装置 コモンズ 2010/12/13 2018/01/25 宇都宮大学
57 特願2010-095569 特許第5743419号 形状測定方法及び装置並びに歪み測定方法及び装置 コモンズ 2010/12/13 2018/01/18 宇都宮大学
58 特願2009-070372 特許第5278878号 管内面形状測定装置 2009/05/22 2018/01/29 宮崎大学
59 特願2015-130144 特開2017-015456 計測システム及び計測方法 2017/02/16 2018/10/30 宮崎大学
60 特願2006-167873 特許第4815597号 画像処理方法、画像処理装置および画像処理プログラム 2008/01/11 2018/02/22 富山大学
61 特願2006-219881 特許第4843789号 レーザスペックルによるナノメートル変位測定方法と装置 2008/03/10 2018/02/22 富山大学
62 特願2015-012697 特許第6472670号 一次元輝度分布検知装置 2015/08/03 2019/03/22 山口大学
63 特願2006-281251 特許第4742270号 変形特性を測定する方法及びそのための装置 2008/04/25 2018/02/22 山口TLO
64 特願2006-070053 特許第4257982号 歪分布計測システムと弾性率分布計測システム及びそれらの方法 新技術説明会 2016/07/08 2018/02/22 山口TLO
65 特願2015-199663 特開2017-072486 奥行き検知システム及び方法 2017/07/19 2017/07/28 山口TLO
66 特願2015-205726 特開2017-078597 転倒状態検知システム及び方法 2017/07/19 2017/07/28 山口TLO
67 特願2016-234323 特開2018-091688 対象物検出装置 2018/03/20 2018/10/31 山口TLO
68 特願2011-156599 特許第5961938号 モノスペクトル・マーカならびにその検出方法および装置 新技術説明会 2012/02/28 2017/12/27 山梨大学
69 特願2011-185700 特許第5891554号 立体感提示装置および方法ならびにぼけ画像生成処理装置,方法およびプログラム 新技術説明会 2012/02/28 2017/12/27 山梨大学
70 特願2015-038571 特許第6420180号 表面検査装置および表面検査方法 コモンズ 2015/04/24 2018/11/20 岐阜大学
71 特願2014-131760 特許第6432968号 物体形状推定装置及びプログラム コモンズ 2017/06/30 2018/12/19 岐阜大学
72 特願2006-212661 特許第4843788号 結晶方位同定方法及び結晶方位同定装置 コモンズ 2011/08/18 2018/02/21 岡山大学
73 特願2011-216588 特許第5294177号 3次元形状データ処理方法、3次元形状データ処理装置 新技術説明会 2012/05/01 2018/01/10 岡山理科大学
74 特願2005-008306 特許第4595077号 腐食構造物の強度劣化予測方法 2006/12/01 2018/02/26 広島大学
75 特願2005-254176 特許第4882062号 非接触型変形状態検出装置 2007/04/02 2018/02/26 広島大学
76 特願2006-066507 特許第4810658号 接触検出装置及び接触検出方法 2007/10/26 2018/02/15 広島大学
77 特願2014-526985 特許第6150231号 心拍計測方法および装置 新技術説明会 2016/08/18 2018/10/30 広島市立大学
78 特願2015-147244 特開2017-023562 3次元形状計測装置、診断システム及び3次元形状計測方法 2017/03/29 2017/05/26 広島市立大学
79 特願2017-154009 特許第6532042号 位置推定装置、自動注射装置、及び位置推定方法 UPDATE 新技術説明会 2019/03/22 2019/06/20 弘前大学
80 特願2017-526246 WO2017002535 計測装置 2018/06/20 2018/07/19 徳島大学
81 特願2004-290013 特許第4501000号 レーザ干渉変位測定方法およびレーザ干渉変位測定装置 2007/01/09 2018/03/13 新潟大学
82 特願2014-109489 特許第6327641号 レーザ走査型干渉計を用いた表面形状の計測方法 新技術説明会 2015/10/21 2018/06/20 新潟大学
83 特願平11-311236 特許第3668654号 歪曲収差の補正方法 新技術説明会 2004/03/25 2018/03/22 早稲田大学
84 特願平11-311232 特許第3668653号 デジタルカメラを用いる寸法,形状の計測方法 2004/03/25 2018/03/22 早稲田大学
85 特願2008-558146 特許第4344869号 計測装置 2009/11/13 2019/05/24 早稲田大学
86 特願2006-302150 特許第4923255号 円柱体の直径、屈折率、中心軸間距離及び入射光軸と間隔のなす角の測定方法およびこれを用いた装置 コモンズ 2011/08/18 2018/02/22 横浜国立大学
87 特願2016-062591 特開2016-188860 干渉型測距計および完全再帰反射体 新技術説明会 2019/02/01 2019/02/22 法政大学
88 特願2010-041039 特許第5371051号 視線計測装置、方法及びプログラム コモンズ 新技術説明会 実績あり 2011/03/18 2018/01/17 神戸大学
89 特願2017-092144 特許第6308637号 特徴量を用いた3次元計測方法およびその装置 2017/10/13 2019/02/22 福井大学
90 特願2017-170670 特開2019-045398 スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置 コモンズ 2018/06/13 2019/04/23 福井大学
91 特願2004-336554 特許第4883517号 三次元計測装置および三次元計測方法並びに三次元計測プログラム 新技術説明会 2006/06/23 2018/03/13 福岡工業大学
92 特願2000-034225 特許第4008176号 超微小押し込み試験装置 新技術説明会 2003/05/27 2013/04/22 科学技術振興機構(JST)
93 特願2003-030249 特許第4044454号 ズームによる位置計測方法 コモンズ 新技術説明会 2004/10/21 2018/03/15 科学技術振興機構(JST)
94 特願2003-301501 特許第4205533号 立体画像構成方法,立体対象の距離導出方法 コモンズ 2005/04/15 2018/03/16 科学技術振興機構(JST)
95 特願2004-136557 特許第4230408号 深穴計測装置および深穴計測方法 コモンズ 2006/02/16 2018/03/09 科学技術振興機構(JST)
96 特願2003-547911 特許第3796585号 遅延時間変調型フェムト秒時間分解走査プローブ顕微鏡装置 コモンズ 2008/03/10 2018/03/16 科学技術振興機構(JST)
97 特願2000-040883 特許第3553451号 光干渉断層像観測装置 実績あり 2011/06/08 2015/08/05 科学技術振興機構(JST)
98 特願2000-098812 特許第3827912号 全方向ステレオ画像撮影装置及びステレオ画像撮影装置 実績あり 2011/06/08 2015/09/09 科学技術振興機構(JST)
99 特願2001-316771 特許第3858056号 スペックルを用いた2方向変形同時計測装置 実績あり 2011/06/08 2018/03/19 科学技術振興機構(JST)
100 特願2001-572826 特許第4164261号 干渉計測装置 実績あり 2011/06/08 2018/03/19 科学技術振興機構(JST)

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