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(In Japanese)原子間力顕微鏡に関する技術の特許マップ

Patent map code PM074
Update Date Jan 13, 2012
Field
  • physics and measurement
Title (In Japanese)原子間力顕微鏡に関する技術の特許マップ
IPC
Keyword
  • (In Japanese) AFM
  • (In Japanese) 走査型プローブ
  • (In Japanese) 表面構造
  • (In Japanese) ナノテクノロジー
Summary (In Japanese)原子間力顕微鏡に関するJ-STORE収録特許、大学等保有特許の分類マップ
Patent map (296KB) PDF

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