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(In Japanese)一括X線回折装置によるコンビナトリアルサンプルの高速結晶構造解析

Research report code R000000483
Posted date Sep 30, 2002
Researchers
  • (In Japanese)大谷 亮
  • (In Japanese)福村 知昭
  • (In Japanese)鯉沼 秀臣
  • (In Japanese)川崎 雅司
Affiliation
  • (In Japanese)東北大学金材料研究所
  • (In Japanese)東京工業大学総合理工/現 東北大学金属材料研究所
  • (In Japanese)東京工業大学応用セラミックス研究所
  • (In Japanese)東北大学金属材料研究所
Research organization
  • (In Japanese)東京工業大学応用セラミックス研究所
  • (In Japanese)文部科学省 物質研究所コンビナトリアルプロジェクト
  • (In Japanese)東京工業大学大学院総合理工学研究科
Report name (In Japanese)一括X線回折装置によるコンビナトリアルサンプルの高速結晶構造解析
Technology summary (In Japanese)一枚の基板上に同時に複数の種類の単結晶薄膜を作成するコンビナトリアルレーザーMBE手法によって,高速かつ系統的な薄膜合成が可能になった。この手法で得た結晶構造を高速に評価するため,複数の試料をパラレルに測定できる一括X線回折装置を開発した。可動マスクを持ったレーザーMBE装置によりSrTiO3基板上の5mm×10mmのエリアに周期を変えた10個の5mm×1mmの超格子[(SrTiO3)n/(BaTiO3)n]30(n=12~30)を集積した。図1に二次元検出器で取り込んだX線強度の等高線マップを示した。横軸は回折角2θ,縦軸は試料上の位置情報に相当する。一番右に基板の回折ピーク,次にペロブスカイトユニットの基本回折ピークが一直線に現れ,それぞれの超格子ピクセルに相当する超格子のサテライトピークが現れた。ピクセルに分割されたサンプルだけでなく,一枚の基板上に連続的に組成や基板温度などを変化させたコンポジションスプレッド試料の分析も行いその有用性を明らかにした。
Drawing

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R000000483_01SUM.gif
Research field
  • Crystal structure of inorganic compounds in general
  • Oxide thin films
Published papers related (In Japanese)(1)"Rapid construction of phase diagram for doped Mott insulators with a compositton-spread approach"T.Fukumura,M.Ohtani,M.Kawasaki,Y.Okimoto,T.Kageyama,T.Koida,T.Hasegawa,Y.Tokura,H.Koinuma,Appl,Phys,Lett.77,3426-3428(2000).
(2)"High throughput stractural diagnosis with concurrent x-ray diffractometer"M.Ohtani,T.Fukumura,A.Ohtomo,M.Lippmaa,M.Kawasaki,T.Ohnishi,D.Komiyama,R.Takahashi,Y.Matsumoto,H.Koinuma,K.Omote,T.Kikuchi,J.Harada.Appl,Phys.Lett.November issue(2001).
Research project
  • Core Research for Evolutional Science and Technology;Single Molecule and Atom Level Reactions
Information research report
  • (In Japanese)大谷 亮,福村 知昭,鯉沼 秀臣,川崎 雅司. 一括X線によるコンビナトリアルサンプルの高速結晶構造解析. 戦略的基礎研究推進事業 単一分子・原子レベルの反応制御 第4回シンポジウム —2期・3期チームの研究進捗— 講演要旨集,2000. p.104 - 104.

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