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(In Japanese)STM発光分光法と近接場光学分光法による表面極微細構造の電子物性の解明

Research report code R000000669
Posted date Sep 30, 2002
Researchers
  • (In Japanese)潮田 資勝
Affiliation
  • (In Japanese)東北大学電気通信研究所
Research organization
  • (In Japanese)東北大学電気通信研究所
Report name (In Japanese)STM発光分光法と近接場光学分光法による表面極微細構造の電子物性の解明
Technology summary (In Japanese)走査型トンネル顕微鏡(STM),近接場光学顕微鏡(SNOM)などの原子スケールの位置分解能を有する顕微鏡法と分光学的手法を組み合わせて,固体表面に生成した極微細構造や環境から完全に孤立した極微細粒子などの個々のナノ構造の新奇な電子・光物性を探索し解明することを目標とした。半導体表面ナノ構造のSTM発光分光とSNOM観測,個々の吸着分子のSTM発光分光,STM発光に及ぼす探針形状の影響,原子分解能STM発光分光,時間分解STM発光分光,光ファイバによる高効率集光系の開発,微小球共振器の光学特性,及び微小領域の磁性に関する研究を行っている。孤立分子のSTM発光を観測するという目標はまだ達成されていないが,それ以外の目標は概ね達成した。当初計画に無かった微小領域の磁性にも研究範囲を広げることができた。
Research field
  • Microscopy determination of structures
  • Surface structure of solids in general
  • Electronic properties in general
  • Luminescence in general
  • Resonator
Research project
  • Core Research for Evolutional Science and Technology;Quantum Effects and Related Physical Phenomena
Information research report
  • (In Japanese)潮田 資勝. STM発光分光法と近接場光学分光法による表面極微細構造の電子物性の解明. 戦略的基礎研究推進事業 量子効果等の物理現象 第4回シンポジウム予稿集,2000. p.57 - 60.

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