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(In Japanese)スピン計測 スピンSPMの開発とスピン制御

Research report code R000000675
Posted date Sep 30, 2002
Researchers
  • (In Japanese)武笠 幸一
Affiliation
  • (In Japanese)北海道大学大学院工学研究科
Research organization
  • (In Japanese)北海道大学大学院工学研究科
Report name (In Japanese)スピン計測 スピンSPMの開発とスピン制御
Technology summary (In Japanese)スピン配列の原子分解能画像を得るためにスピン依存性走査プローブ顕微鏡の開発を目標とした。スピン偏極STM(SP-STM)および交換力顕微鏡(EFM)の二種の方法を研究した。試料表面の電子およびスピン状態を理解するために,よく定義された表面のチップおよび試料が必要である。SP-STMの場合に,試料としてよく定義されたFeエピタキシー薄膜を作製し,GaAS単結晶または超格子構造GaAs薄膜の超高真空中での劈開による表面清浄チップ尖端を得ることに成功した。結果としてスピン依存画像および走査トンネルスぺクトロスコピーの観察に成功した。室温でFe被覆チップを用いて非接触原子間力顕微鏡によりNiO(100)劈開表面を観察し,原子分解能実画像およびスピン像を得ることが出来た。交換力測走の別の方法として走査磁気抵抗顕微鏡の開発を検討した。第一原理分子軌道計算を用いて,SPM環境のスピン電子状態も研究した。
Research field
  • Electron and ion microscopes
  • Microscopy determination of structures
  • Metallic thin films
  • Semiconductor thin films
  • Electrical properties of interfaces in general
Research project
  • Core Research for Evolutional Science and Technology;Quantum Effects and Related Physical Phenomena
Information research report
  • (In Japanese)武笠 幸一. スピン計測 スピンSPMの開発とスピン制御. 戦略的基礎研究推進事業 量子効果等の物理現象 第4回シンポジウム予稿集,2000. p.67 - 70.

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