Top > Search Research paper > (In Japanese)単電子トランジスタによる量子ホール効果エッジ状態の検出

(In Japanese)単電子トランジスタによる量子ホール効果エッジ状態の検出

Research report code R000000719
Posted date Sep 30, 2002
Researchers
  • (In Japanese)藤岡 博幸
  • (In Japanese)勝本 信吾
  • (In Japanese)家 泰弘
Affiliation
  • (In Japanese)東京大学物性研究所
  • (In Japanese)東京大学物性研究所
  • (In Japanese)東京大学物性研究所
Research organization
  • (In Japanese)東京大学物性研究所
Report name (In Japanese)単電子トランジスタによる量子ホール効果エッジ状態の検出
Technology summary (In Japanese)量子ホール状態における輸送現象では,エッジ状態が重要な役割を果たしている。しかし,分数量子ホール状態が本質的に多体効果であるため,エッジ状態の概念は整数量子ホール効果ほど明瞭ではなく,未だ決定的なモデルはない。そこで分数量子ホール効果のエッジチヤネル空間分布の測定を試みた。エッジチヤネルの空間分布に関する情報を得るためには,磁気長と同程度の高い空間分解能を持った測定が必要である。そこで,単電子トランジスタを2次元電子系のプローブとすることによって整数量子ホール効果のエッジチヤネルを測定することに成功した。また,分数量子ホール状態の2次元電子系の非圧縮性を同様の試料で検出することに成功した。図1にν=1のエッジチヤネルの測定結果を示す。図2にν=2/3前後の磁場での応答関数の測定結果を示す。磁場がν=2/3に近づくにつれてカットオフ周波数が小さくなり,σxxが小さくなっていることがわかる。
Drawing

※Click image to enlarge.

R000000719_01SUM.gif R000000719_02SUM.gif
Research field
  • General theory of electronic transport
  • Materials of solid‐state devices
  • Measurement, testing and reliability of solid‐state devices
  • Transistors
Research project
  • Core Research for Evolutional Science and Technology;Quantum Effects and Related Physical Phenomena
Information research report
  • (In Japanese)藤岡 博幸,勝本 信吾,家 泰弘. 単電子トランジスタによる量子ホール効果エッジ状態の検出. 戦略的基礎研究推進事業 量子効果等の物理現象 第4回シンポジウム予稿集,2000. p.141 - 141.

PAGE TOP