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(In Japanese)分数・整数量子ホール系における非弾性散乱と端状態間緩和

Research report code R000000732
Posted date Sep 30, 2002
Researchers
  • (In Japanese)町田 友樹
  • (In Japanese)石塚 進
  • (In Japanese)小宮山 進
Affiliation
  • (In Japanese)科学技術振興事業団 戦略的基礎研究推進事業
  • (In Japanese)東京大学大学院総合文化研究科
  • (In Japanese)東京大学大学院総合文化研究科
Research organization
  • (In Japanese)科学技術振興事業団 戦略的基礎研究推進事業
  • (In Japanese)福岡女子大学人間環境学部
Report name (In Japanese)分数・整数量子ホール系における非弾性散乱と端状態間緩和
Technology summary (In Japanese)分数量子ホールにおけるエッジ状態描像解明のため,分数エッジチャネルに間非平衡分布を調べた。v=1の整数量子ホール状態にある二次元電子系において,ショットキーゲートによるポテンシャル障壁を用いて分数エッジチャネルを選択的に透過/反射すると,量子化ホール抵抗値と異なるホール抵抗の値が測定された。これはv=1の整数エッジチャネルが分数エッジチャネルに分割しており,5umのエッジ長に渡って非平衡分布が緩和しないことを示している。さらに,分数量子ホール系における非弾性散乱過程解明のため,分数量子ホールを遷移幅の試料サイズ依存性を調べた。v=2/3とv=3/5の分数量子ホール状態間遷移幅は80mK以下の低温領域で系統的なサイズ依存性を示した。これは分数量子ホール系における非弾性散乱長が試料と同程度のおおきさ(~10um)であることを示している。
Research field
  • Quantum optics in general
  • Semiconductor‐metal contacts
  • Inorganic compounds and elements in general
Published papers related (In Japanese)(1)Nonequilibrium population in fractional edge states T.Machida,S.Ishizuka,S.Komiyama,K.Muraki,and Y.Hirayama Physica B298,150(2001).
(2)Scaling in fractional quantum-Hall transitions T.Machida,S.Ishizuka,S.Komiyama,K.Muraki,and Y.Hirayama Physica B298,182(2001).
Research project
  • Core Research for Evolutional Science and Technology;Quantum Effects and Related Physical Phenomena
Information research report
  • (In Japanese)町田 友樹,石塚 進,小宮山 進. 分数・整数量子ホール系における非弾性散乱と端状態間緩和. 戦略的基礎研究推進事業 量子効果等の物理現象 第4回シンポジウム予稿集,2000. p.162 - 162.

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