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(In Japanese)波束検出のためのフェムト秒位相分光

Research report code R013000327
Posted date Oct 1, 2003
Researchers
  • (In Japanese)永名 継道
  • (In Japanese)伊藤 明子
  • (In Japanese)三沢 和彦
  • (In Japanese)覧具 博義
Affiliation
  • (In Japanese)東京農工大学
  • (In Japanese)東京農工大学
  • (In Japanese)東京農工大学
  • (In Japanese)東京農工大学
Research organization
  • (In Japanese)東京農工大学
Report name (In Japanese)波束検出のためのフェムト秒位相分光
Technology summary (In Japanese)この論文では,デバイス材料を通ったフェムト秒パルスの振幅と位相の変化を,Sagnac干渉計(SI)と相互相関周波数分解光ゲート法(XFROG)で測定する新しい方法を提供する。SIの構成を図1(a)に,試料における励起,参照,プローブの各パルスの時間順を1(b)に示す。参照パルスが最初に到着し,励起パルスが屈折率変化をもたらし,プローブパルスがその屈折率変化を検出する。参照パルスとプローブパルスはSIの中を反対向きに周り,同時にSIから出ていく。励起が屈折率変化を引き起こすと,プローブパルスに位相シフトが起きて干渉フリンジの最大ピークの位置を空間的にずらす。他方吸収が変化するとピーク強度が減る。こうして位相シフトと吸収変化を取り出すことができる。XFROGはテストパルスと参照パルスの相互相関測定である(図2)。参照パルスのスペクトルと位相分散を前もって調べておく。テストパルス(試料を通ったもの)と参照パルスの和周波信号のスペクトルが時間遅延の関数として測定される。テストパルスが試料の吸収で振幅を減らしたとしても,参照パルスの強度が和周波数発生するのに十分強いので,非線形信号は容易に検出できる。
Drawing

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R013000327_01SUM.gif R013000327_02SUM.gif
Research field
  • Optical instruments and techniques in general
  • Spectroscopy and spectrometers in general
  • Interferometry and interferometers
Research project
  • Core Research for Evolutional Science and Technology;Function Evolution of Materials and Devices based on Electron/Photon Related Phenomena
Information research report
  • (In Japanese)永名 継道,伊藤 明子,三沢 和彦,覧具 博義. Femtosecond phase spectroscopy for wave packet detection. The Second CREST Symposium on ''Function Evolution of Materials and Devices based on Electron/Photon Related Phenomena'',2001. p.155 - 155.

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