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(In Japanese)スピン計測 -スピンSPMの開発とスピン制御-

Research report code R030000024
Posted date Mar 18, 2005
Researchers
  • (In Japanese)武笠 幸一
Affiliation
  • (In Japanese)北海道大学大学院工学研究科
Research organization
  • (In Japanese)北海道大学
Report name (In Japanese)スピン計測 -スピンSPMの開発とスピン制御-
Technology summary (In Japanese)物質表面のスピン状態を観測する2種類の走査プローブ顕微鏡を開発した。すなわち試料表面の状態に影響を与えないGaAs劈開(薄膜)探針を用いたスピン偏極走査型トンネル顕微鏡(SP-STM)でFe(100)エピタキシャル薄膜のスピン偏極
の観測および、非接触原子間力顕微鏡(NC-AFM)を用いて反強磁性NiO単結晶劈開面について原子分解能で交換相互作用の観測(EFM)に成功した。またナノ構造物質における新奇なスピン現象を予測出来た。
Drawing

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R030000024_01SUM.gif
Research field
  • Electron and ion microscopes
  • Electronic structure of surfaces
  • Electrical properties of interfaces in general
  • Magnetic materials
Research project
  • Core Research for Evolutional Science and Technology;Quantum Effects and Related Physical Phenomena
Information research report
  • (In Japanese)武笠 幸一. 量子効果等の物理現象 スピン計測 -スピンSPMの開発とスピン制御-. 戦略的基礎研究推進事業 平成7年度 採択研究課題 研究終了報告書 概要版 2002. p.377 - 386.

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