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(In Japanese)X線解析による分子の励起構造の解明

Research report code R030000027
Posted date Mar 18, 2005
Researchers
  • (In Japanese)大橋 裕二
Affiliation
  • (In Japanese)東京工業大学大学院理工学研究科
Research organization
  • (In Japanese)東京工業大学
Report name (In Japanese)X線解析による分子の励起構造の解明
Technology summary (In Japanese)本研究では物質を構成する分子が光や熱で励起した状態の構造を解析して、物質の物理的・化学的性質をその構造から解明することを目標とした。まず短寿命で不安定な構造を解析するために、イメ-ジングプレ-トを二次元検出器として利用した迅速X線解析装置(R-AXIS RAPID)を製作した。この装置でこれまで1週間必要であった測定時間を2時間程度まで短縮した。この装置は理学電機(株)から市販されている。さらに新たな二次元検出器(MSGC)を開発し、わずか1秒で全デ-タを収集して構造解析することができた。これらの迅速X線解析装置を利用して、光照射によって生じる不安定なラジカルやカルベンやナイトレンの構造を解析し、また光照射で生じた白金錯体の励起構造を解析することに成功し、準安定な中間体や励起状態の構造に基づく新たな科学を確立した。
Drawing

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R030000027_01SUM.gif
Research field
  • X‐ray instruments and techniques
  • X‐ray diffraction methods
  • Experimental research on molecular structure and properties
Research project
  • Core Research for Evolutional Science and Technology;Single Molecule and Atom Level Reactions
Information research report
  • (In Japanese)大橋 裕二. 単一分子・原子レベルの反応制御 X線解析による分子の励起構造の解明. 戦略的基礎研究推進事業 平成7年度 採択研究課題 研究終了報告書 概要版 2002. p.425 - 442.

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