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(In Japanese)画素の小さいX線検出用CCDの開発

Research report code R030000038
Posted date Mar 18, 2005
Researchers
  • (In Japanese)常深 博
Affiliation
  • (In Japanese)大阪大学大学院理学研究科
Research organization
  • (In Japanese)大阪大学
Report name (In Japanese)画素の小さいX線検出用CCDの開発
Technology summary (In Japanese)入射X線のエネルギー、画像、時刻を同時に測定できるX線用CCDの開発を進めた。これは、厚い空乏層、低雑音、小さな画素を目指したもので、エネルギー毎のX線画像を取得できるX線カラー撮像装置となります。空乏層厚さは50μm程度、雑音レベルは電子換算で3個程度とX線を能率よく検出できる他、入射位置精度はサブμmを達成した。また大面積を達成できるようになっており、8素子をほぼ稠密に並べることができ、5×10cm2を実現した。将来的には、宇宙プラズマの観測や新しいX線顕微鏡の開発などへの応用が期待される。
Research field
  • Radiation detection and detectors
  • X‐ray instruments and techniques
  • Charge‐transfer devices
Research project
  • Core Research for Evolutional Science and Technology;Phenomena of Extreme Conditions
Information research report
  • (In Japanese)常深 博. 極限環境状態における現象 画素の小さいX線検出用CCDの開発. 戦略的基礎研究推進事業 平成7年度 採択研究課題 研究終了報告書 概要版 2002. p.665 - 674.

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