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(In Japanese)コインシデンス分光法による複合表面解析

Research report code R090000068
Posted date Apr 3, 2009
  • (In Japanese)間瀬 一彦
  • (In Japanese)高エネルギー加速器研究機構 物質構造科学研究所
Report name (In Japanese)コインシデンス分光法による複合表面解析
Technology summary (In Japanese)表面に軟Ⅹ線を照射すると、内殻電子励起、オージェ過程、イオン脱離が起きる(図1)。内殻光電子とオージェ電子の運動エネルギーは元素固有の値を取り化学的環境も反映するため、Ⅹ線光電子分光(XPS)、オージェ電子分光(AES)は試料表面の組成・化学状態分析法として広く利用されている。また、脱離イオン測定は表面水素の検出に利用されている。しかし、これら3つの過程は100fsの時間内に起きる一連の過程であり、その全体像を明らかにするにはオージェー光電子コインシデンス分光(APECS)と光電子-光イオンコインシデンス(PEPICO)分光、オージェ電子-光イオンコインシデンス(AEPICO)分光が不可欠である。また、コインシデンス分光法を利用すると、表面の組成と化学状態ばかりでなく、化学結合状態や局所電子状態などの情報も得られる。本研究の目的は1)高感度高分解能電子-イオンコインシデンス(EICO)分光法2)高感度高分解能オージェー光電子コインシデンス分光法(APECS)という2つの新しい表面計測分析法を開発することによって、ナノテクノロジー、材料科学、環境科学など幅広い分野の科学技術に貢献することである。

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Published papers related (In Japanese)1. T. Kakiuchi, E. Kobayashi, K. K. Okudaira, N. Fujita, M. Tanaka, and K. Mase, “Construction and Evaluation of a Miniature Electron Ion Coincidence Analyzer Mounted on a Conflat Flange with an Outer Diameter of l14mm”, Analytical Sciences, in Press.
2. T. Kakiuchi, E. Kobayashi, N. Okada, K. Oyamada, M. Okusawa, K. K. Okudaira, and K. Mase, “Development of an electron electron ion coincidence analyzer for Auger photoelectron coincidence spectroscopy (APECS) and electron ion coincidence (EICO) spectroscopy”, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 161, 164-171(2007).
3. E. Kobayashi, K. Mase, A. Nambu, J. Seo, S. Tanaka, T. Kakiuchi, K. K. Okudaira, S. Nagaoka, and M. Tanaka, ”Recent progress in coincidence studies on ion desorption induced by core excitation”, J. Phys.: Condens. Matter, 18, S1389-S1408(2006).
Research project
  • Precursory Research for Embryonic Science and Technology.;Structure Function and Measurement Analysis
Information research report
  • (In Japanese)間瀬 一彦. コインシデンス分光法による複合表面解析. さきがけ「構造機能と計測分析」領域 一期生研究報告会 講演要旨集. p.15 - 16.