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(In Japanese)極限環境状態における現象 画素の小さいX線検出用CCDの開発

Research report code R990004279
Posted date Feb 6, 2001
  • (In Japanese)常深 博
  • (In Japanese)大阪大学大学院理学研究科
Research organization
  • (In Japanese)大阪大学大学院理学研究科
Report name (In Japanese)極限環境状態における現象 画素の小さいX線検出用CCDの開発
Technology summary (In Japanese)CCDによりX線を高精度での検出するための研究と製品開発を行った。多数の微小孔が開いた金属メッシュをCCD素子の直前に配置し,X線の入射位置を正確に測定する実験を行って,CCD内部に形成される電子雲形状の違いを正確に実測した。これにより1μm程度の精度での入射位置の決定を実現することができた。また,10keVを超える高エネルギーX線の空乏層とその下の中性領域における吸収に関する研究を行って,一部の電荷が失われた信号についても入射X線のエネルギーを調べることが可能となり,30%程度の検出効率の改善を達成した。さらに,研究成果を基にCCDデバイスの製品開発を行った。現在までに受光部が1インチ四角(画素は24μm四角)のフレーム転送型素子が開発された。国際宇宙ステーションの全天X線監視カメラMAXI用のCCD素子を製作している。
Research field
  • Measurement and instruments of radiation in general
  • X‐ray instruments and techniques
  • Photometry and photodetectors in general
  • Photoelectric conversion tubes
  • Charge‐transfer devices
Published papers related (In Japanese)(1)H. Tsunemi, J. Hiraga, K. Mori, K. Yoshita and E. Miyata Diagnostics of the CCD using the mesh experiment 1999, Nuclear instruments and Methods, A436, 32-29.
Research project
  • Core Research for Evolutional Science and Technology;Phenomena of Extreme Conditions
Information research report
  • (In Japanese)常深 博. 極限環境状態における現象 画素の小さいX線検出用CCDの開発. 戦略的基礎研究推進事業 平成10年度 研究年報,1999. p.448 - 453.