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NONDESTRUCTIVE MEASURING METHOD AND DEVICE FOR COMPLEX DIELECTRIC CONSTANT

Seeds code S100002106
Posted date Oct 7, 2010
Researchers
  • (In Japanese)平野 誠
Name of technology NONDESTRUCTIVE MEASURING METHOD AND DEVICE FOR COMPLEX DIELECTRIC CONSTANT
Technology summary (In Japanese)この複素誘電率の非破壊測定方法は、2つのフランジ付導波管の間に被測定試料である平板形状の誘電体を挿入して隙間無く密着するように押さえ、かつ各々のフランジ及び誘電体の寸法は入射される電磁波が誘電体の端部に至るまでに充分減衰する寸法を有するものとする。一方の導波管の開口面から一定の周波数の電磁波を入射させた際の反射係数及び透過係数を計測し、マックスウェルの方程式から導出されたヘルムホルツ方程式を、2つのフランジ付導波管と誘電体の各領域について立て、これらをそれぞれのフランジ付導波管の開口面及びフランジ面上の境界条件式に代入する。得られた連立方程式を用いて、計測により得られた反射係数及び透過係数の絶対値と位相角から、挿入した誘電体の複素誘電率を求める。フランジ付導波管23の導波管部24は、ロッドアンテナ22により発生した電磁波を被測定試料の誘電体表面まで伝搬させると共に、導波管部24の開口面からの反射波のうち基本モードだけをロッドアンテナ22まで伝搬させ、フランジ付導波管23のフランジ25は誘電体内部に入射した電磁波が、開口面以外の位置から誘電体の外部に漏れることを防ぐ。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2001-009468.gif
Research field
  • Measuring methods and instruments of R, L, C, Q, and dielectric constant
Seeds that can be deployed (In Japanese)マイクロ波やミリ波領域で被測定試料の寸法精度を得るのが困難な場合であっても、簡単な構造の回路で容易かつ正確に試料の誘電体の複素誘電率を測定することのできる複素誘電率の非破壊測定方法及び装置を提供する。
2つのフランジ付導波管の間に被測定試料である平板形状の誘電体を挿入して隙間無く密着するように押さえるので、測定器具の寸法に合わせた試料の精密加工を必要とせずに、試料として任意の広さの平板形状の誘電体を用いればよく、複素誘電率を簡単に測定できる。
Usage Use field (In Japanese)マイクロ波帯、ミリ波帯、伝送線路、導波管
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)防衛装備庁長官, . (In Japanese)平野 誠, . NONDESTRUCTIVE MEASURING METHOD AND DEVICE FOR COMPLEX DIELECTRIC CONSTANT. P2002-214161A. Jul 31, 2002
  • G01N  22/00     
  • G01R  27/26     

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