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PROFILE MEASURING SYSTEM AND ITS METHOD

Seeds code S100002719
Posted date Nov 5, 2010
Researchers
  • (In Japanese)木寺 正平
  • (In Japanese)阪本 卓也
  • (In Japanese)佐藤 亨
Name of technology PROFILE MEASURING SYSTEM AND ITS METHOD
Technology summary (In Japanese)物体の形状を測定する形状測定装置1は、送信アンテナA1と、受信アンテナA2と、信号生成部11と、信号受信部12と、演算処理部13と、インタフェース部14と、入力部15と、出力部16と、記憶部17と、バス18とを備えて構成される。パルスを生成して送信パルスとして空間に放射する。送信パルスを放射した位置で物体で反射した送信パルスの反射波を受信信号として受信する。物体に対してパルス生成放射部の位置を変えながら送信パルスを放射することによって受信部で受信された複数の受信信号の波形と参照信号の波形との相互相関をそれぞれ求めることで複数の相関波形を求める。相関部で求められた複数の相関波形に基づいて擬似波面を抽出して擬似波面と物体の形状との対応関係から物体の形状を推定する。形状推定部で推定した物体の形状に応じた受信信号の波形を推定する。参照信号の波形として最初は送信パルスの波形を用いると共に次回以降は波形推定部で推定した受信信号の波形を用い、物体の形状を複数回推定することによって物体の形状を求める。送信パルスは、中心周波数に対する占有帯域幅の比である比帯域が20%以上であるパルスやUWBパルスやモノサイクルパルスが好ましい。
Drawing

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thum_2005-168863.gif
Research field
  • Measuring methods and instruments of length, area, cross section, volume, angle
  • Antennas
  • Electronic circuits in general
Seeds that can be deployed (In Japanese)送信パルスを放射して目標の物体から反射した送信パルスの反射波を受信することによって、物体の形状を測定するSEABED法による形状測定装置及び形状測定方法を提供する。
受信信号の波形が送信パルスの波形と相違する場合でも、物体の形状をより精度よく求めることができる。
Usage Use field (In Japanese)SEABED法、直接散乱波、多重散乱波
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人京都大学, . (In Japanese)木寺 正平, 阪本 卓也, 佐藤 亨, . PROFILE MEASURING SYSTEM AND ITS METHOD. P2006-343205A. Dec 21, 2006
  • G01S  13/89     

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