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METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE

Seeds code S100003182
Posted date Nov 5, 2010
Researchers
  • (In Japanese)岩田 太
Name of technology METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
Technology summary (In Japanese)レーザーをプローブ先端21へ直線偏光のP偏光成分を変調して照射する。プローブ先端21にP偏光が照射されたタイミングでプローブ先端21と試料との間の散乱光を検出する。 円偏光としたレーザーを回転する偏光子に通してプローブ先端21へ直線偏光のP偏光成分を変調して照射する。プローブ先端21にP偏光が照射されたタイミングでプローブ先端と試料との間の散乱光を検出する。 レーザー発信器とその光路中の円偏光変換手段と回転する偏光子とを有して成る。 円偏光変換手段は、1/4波長板である。偏光子は、偏光板である。
Drawing

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thum_2005-105316.gif
Research field
  • Optical microscopes, telescopes
Seeds that can be deployed (In Japanese)レーザーの偏光の変調、並びに、走査型プローブ顕微鏡を提供する。特に、近接場光によるプローブ先端と試料との間の散乱光を検出する散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡を提供する。
レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のP偏光成分を変調して照射することができる。プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、SNOM信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡が得られる。
Usage Use field (In Japanese)光学顕微鏡、走査トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、散乱型近接場光学顕微鏡
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)学校法人静岡大学, . (In Japanese)岩田 太, . METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE. P2006-098386A. Apr 13, 2006
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