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ION CURRENT MEASURING APPARATUS

Seeds code S100003762
Posted date Dec 3, 2010
Researchers
  • (In Japanese)近藤 真史
  • (In Japanese)長 照二
  • (In Japanese)小波蔵 純子
  • (In Japanese)沼倉 友晴
  • (In Japanese)時岡 優
Name of technology ION CURRENT MEASURING APPARATUS
Technology summary (In Japanese)イオン電流量計測器100は、入射するプラズマの送出部の1部を形成するコリメータ1、コリメータ1に近接して電極板2およびコレクター3並びに静電遮蔽手段4を構成する静電遮蔽グリッド5を備える。静電遮蔽手段4は、電極板2とコレクター3との間の空間に配置される静電遮蔽グリッド5とこの静電遮蔽グリッド5を保持する箱形の保持ボックス6とから構成される。入射プラズマに対して電極板2と静電遮蔽グリッド5を平行に設置し、この間に電場を形成してイオンと電子の軌道偏向を行う。電極板に正の電圧を印加するとイオンが、負の電圧を印加すると電子がグリッド側に偏向される。電極板2と静電遮蔽グリッド5の距離を狭くすることにより、低電圧印加でも高電場の発生を可能にできる。静電遮蔽グリッド5を電極板2とコレクター3との間に設けることによって電極板2側を粒子軌道偏向部とし、コレクター側をイオン捕集部とすることができ、入射電子、二次電子の影響を抑制した正確なイオン計測を可能とした簡易構造であって、電位分布とコレクター構造を最適化する事が可能となり、小型化を可能にしたイオン電流量計測器を提供することができる。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2005-108081.gif
Research field
  • Measuring methods and instruments of current, voltage, charge
  • Particle optics in general
  • Plasma in general
Seeds that can be deployed (In Japanese)数keV程度のエネルギーを持つプラズマイオンを計測することができ、印加電圧を小さく抑え、かつ小型化が可能なイオン電流量計測器を提供する。
静電遮蔽手段を、電極板とコレクターとの間に設けることによって電極板側を粒子軌道偏向部とし、コレクター側をイオン捕集部とすることができ、入射電子、二次電子の影響を抑制した正確なイオン計測が可能となる。
Usage Use field (In Japanese)核融合炉、ミラー型開放端プラズマ閉じ込め装置
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人 筑波大学, . (In Japanese)近藤 真史, 長 照二, 小波蔵 純子, 沼倉 友晴, 時岡 優, . ION CURRENT MEASURING APPARATUS. P2006-286548A. Oct 19, 2006
  • H05H   1/00     

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