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DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SURFACE CHARGE AMOUNT

Seeds code S110005553
Posted date Jan 12, 2011
Researchers
  • (In Japanese)篠原 寛明
  • (In Japanese)伊藤 研策
  • (In Japanese)冨田 勝彦
Name of technology DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SURFACE CHARGE AMOUNT
Technology summary (In Japanese)表面上方を浮遊するプローブ粒子Pを用いて試料21の表面21aでの電荷量を計測する表面電荷量計測装置1Aである。光源2と、プローブ粒子Pの像(プローブ像)を得る結像光学系3と、プローブ像を撮像してプローブ画像を得る撮像装置4と、プローブ画像からプローブ粒子Pの位置分布を取得し、位置分布から試料21の表面21aでの電荷量を計測する画像処理装置10とを備える。画像処理装置10は、予め格納されたプローブ画像におけるプローブ粒子Pの大きさを規定する値である直径とプローブ粒子Pの試料S表面からの距離との関係を示す校正データと撮像装置4によって撮像されたプローブ粒子Pの直径とに基づいて、プローブ粒子Pの位置分布を得る。光源を有さず、例えばプローブ粒子P自身が蛍光を発光し、その像を撮像して試料21の表面での電荷量を計測してもよい。光源に限定はなく、可視光、紫外線、赤外線、X線、電子線、あるいは中性子線など、どのような波長の光を出す光源であってもよい。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2006-187105.gif
Research field
  • Measuring methods and instruments of current, voltage, charge
  • Graphic and image processing in general
Seeds that can be deployed (In Japanese)試料の表面における電荷量を簡便に計測することが可能な表面電荷量計測装置及び表面電荷量計測方法を提供する。
プローブ粒子の位置分布を求めることにより、荷電された試料表面の電荷量を算出することが可能となる。また、荷電されたプローブ粒子の位置分布を求めるだけであるため、簡便に且つ低コストで試料表面の電荷量を計測することが可能となる。また、試料表面上に液体あるいは気体が存在し液体等が流動している場合であっても、プローブ粒子は浮遊しているため、流動によって妨げられることなく試料表面での電荷量を計測することが可能となる。また、プローブ粒子の大きさを変えることで所望の分解能で電荷量を計測することが可能となる。
Usage Use field (In Japanese)化学的反応検出方法、生物学的反応検出方法、結合反応特定
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)学校法人富山大学, . (In Japanese)篠原 寛明, 伊藤 研策, 冨田 勝彦, . DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SURFACE CHARGE AMOUNT. P2008-014832A. Jan 24, 2008
  • G01R  29/24     

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