Top > Quick Search > Search Technology seeds > MEASURING DEVICE FOR OBJECT

MEASURING DEVICE FOR OBJECT

Seeds code S110005845
Posted date Oct 3, 2011
Researchers
  • (In Japanese)木本 晃
  • (In Japanese)信太 克規
  • (In Japanese)辻 聡史
Name of technology MEASURING DEVICE FOR OBJECT
Technology summary (In Japanese)対象物測定装置は、透明体又は導電体からなる測定対象物100に対して可視光線(0.4~0.8μm)を照射する光照射手段1と、不透明且つ不導電体の部材で形成される載置台5上に測定対象物100を載置し、この測定対象物100に可視光線を照射して測定対象物100からの反射光を受光し、この受光光により二つの電極22a・22b、23a・23b間の光電半導体の抵抗値を変化させる二つのCdSセル22、23を間隔dで離隔配設し、このCdSセル22の外側の電極22aに交流電源25が接続されると共に、他のCdSセル23の外側の電極23aが出力端子26として形成される検知手段2と、前記検知手段2の検知動作と同じ条件で予め検出された測定対象物100に関する厚さ情報及び位置情報が基準データのして格納されているデータベースメモリ32と、この検知手段2の出力端子26からの検知信号に基づき前記測定対象物100の厚さ及び位置を判別する判定電力部31を有する測定対象物判別手段3と、この判別結果を表示する表示手段4とを備える構成である。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2007-042929_1.gif thum_2007-042929_2.gif
Research field
  • Applications
Seeds that can be deployed (In Japanese)透明体又は導電体からなる測定対象物の光特性及び電気特性を用いて単一の検知手段(センサ)で測定対象物の厚さ及び位置を簡易で迅速且つ確実に測定できる対象物測定装置を提供する。
測定対象物からの反射光量に応じて検知手段が検知する静電容量を変化させることができることとなり、簡易な構成で測定対象物の材質等の厚さ及び位置を同時に測定できる。また、検知手段における各電極間の空間領域を誘電体とすることができることとなり、簡易な構成で測定対象物の材質等の厚さ及び位置を同時に測定できる。さらに、測定対象物からの反射光のみを各光導電素子が検出できることとなり、より高精度に測定対象物の厚さ及び位置を同時に測定できる。
Usage Use field (In Japanese)ロボット、対象物測定装置
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人佐賀大学, . (In Japanese)木本 晃, 信太 克規, 辻 聡史, . MEASURING DEVICE FOR OBJECT. P2008-203221A. Sep 4, 2008
  • G01B  11/02     
  • G01B  11/00     

PAGE TOP