計測システム
| シーズコード | S110006026 | ||
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| 掲載日 | 2011年11月2日 | ||
| 研究者 |
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| 技術名称 | 計測システム | ||
| 技術概要 | 分布型温度計測システムでは、広帯域光源１から出射した光はＳＭＦ、光方向性結合器２（光方向性結合器はサーキュレータでもよい）を経てＳＭＦに入射する。このＳＭＦにはＮ個のセンサ（Ｎは１以上の整数）がＳＭＦを介して直列に接続される。１個あるいは複数のセンサからの反射光は逆の経路をたどって光方向性結合器２経由波長検波器３に導かれ該検波器においてこれらセンサからの反射スペクトルを計測することによりセンサが検出すべき温度を測定する。各センサは第一のリング導波路ＲＷ１とブラッググレーティングＷＢＧを内蔵した第二のリング導波路ＲＷ２を第一の光方向性結合器ＤＣ１で結合しかつ第一のリング導波路ＲＷ１を第二の光方向性結合器ＤＣ２を介してＳＭＦからなる光信号伝送ラインに結合させることにより第一のリング共振器を構成しリング共振器の入射ポートＩＰからドロップポートＤＰへの透過帯域フィルタ特性を第一のリング導波路ＲＷ１のリング長を例えばミリメータ程度にすることにより狭帯域透過櫛型フィルタ特性とする。 | ||
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画像
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| 研究分野 |
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| 展開可能なシーズ |
光ファイバブラッググレーティングを用いた光スペクトルパタンマッチング法による分布型センサシステムを提供する。 センサの測定範囲はシステム設計の段階でこの櫛型反射スペクトルのＦＳＲより狭い波長範囲とするとセンサの温度とセンサからの櫛型反射スペクトルは一対一で対応する。この関係をあらかじめデータとして記憶しておくことによりＡＷＧの任意のチャンネルの出力の最大値を与える電圧からそのチャンネルに対応するセンサの温度を測定することができる。 |
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| 用途利用分野 | 分布型センサシステム、分布型温度計測システム | ||
| 出願特許 | 特許 | 国際特許分類(IPC) | |
| ( 1 ) | 独立行政法人国立高等専門学校機構， . 佐野 安一， 窪田 純， . 計測システム. 特開2008-232878. 2008-10-02 |
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英語項目の表示
| 技術名称 | DISTRIBUTION TYPE SENSOR SYSTEM BY OPTICAL SPECTRUM PATTERN MATCHING METHOD |
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| 研究分野 |
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『 計測システム 』に関するお問合せ
- 独立行政法人国立高等専門学校機構長野工業高等専門学校 総務課 研究協力・産学連携係
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