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METHOD FOR ANALYZING ELEMENT ON SURFACE OF SOLID IN LIQUID

Seeds code S110006918
Posted date Dec 8, 2011
Researchers
  • (In Japanese)作花 哲夫
Name of technology METHOD FOR ANALYZING ELEMENT ON SURFACE OF SOLID IN LIQUID
Technology summary (In Japanese)液体中固体表面の元素分析方法を実現するための機器による分析の流れについて説明する。まず、ユーザが所定の指示を入力することにより、パルス発生器3からレーザ発振器4に対してパルス信号が出力される。レーザ発振器4は、そのパルス信号を受けてレーザを発振し、ターゲット固体1に対してパルスレーザを照射する。使用することができるレーザの種類は、パルス幅が30ns以上であって、且つ望ましくはパルスエネルギーが10mJ以下のパルスレーザを発振することができる限り特に限定されない。例えば、YAGレーザ、ルビーレーザをはじめとする各種固体レーザ、色素レーザ等の各種液体レーザ、エキシマレーザ等の各種ガスレーザ、また、各種半導体レーザを使用することが可能である。ターゲット固体1のパルスレーザ照射位置には、レーザアブレーションし、プルームが生成する。このプルームの発光を集光して分光器5において分光し、ICCD等から成る検出器6によって発光のスペクトルを測定する。検出器6において検出されたスペクトルのデータは処理部7に出力され、処理部7では元素分析処理を含む種々の処理が行われる。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2005-257784.gif
Research field
  • Physical analysis in general
Seeds that can be deployed (In Japanese)液体中の固体表面に存在するする物質の元素分析を比較的簡便な方法で高精度に行うことができ、しかも固体表面へのダメージが少ない分析方法を提供する。
液体中の固体表面の元素分析方法は、固体表面に対してパルスレーザを一度照射するのみでよいため、至極簡便にその場元素分析を行うことができる。しかも、パルスエネルギーが1~数mJと小さくても線スペクトルが明確に現れるため、元素の同定を行ううえで分析対象の固体表面に与える損傷量が少なくてすむ。また、この元素分析方法は、従来のレーザ誘起ブレークダウン分光法による分析方法とほぼ同一であり、その分析機器構成を利用することができるため、コスト的にも優れているという長所がある。
Usage Use field (In Japanese)元素分析装置、固体表面の元素分析装置、液体中固体表面の元素分析装置
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人京都大学, . (In Japanese)作花 哲夫, . METHOD FOR ANALYZING ELEMENT ON SURFACE OF SOLID IN LIQUID. P2007-071639A. Mar 22, 2007
  • G01N  21/63     

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