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METHOD, APPARATUS, AND PROGRAM FOR ANALYZING EXPRESSION OF GENE

Seeds code S110007182
Posted date Dec 21, 2011
Researchers
  • (In Japanese)笠間 康次
  • (In Japanese)安部 真澄
Name of technology METHOD, APPARATUS, AND PROGRAM FOR ANALYZING EXPRESSION OF GENE
Technology summary (In Japanese)遺伝子発現解析装置Aは、発現している複数の遺伝子転写産物に由来する複数のピークを有する一つの波形として表したプロファイルデータを用いて遺伝子の発現状態を解析する遺伝子発現解析装置であって、参照プロファイルデータ取得手段1と、測定プロファイルデータ作成手段2と、ピーク対応付け手段3と、遺伝子発現解析手段4とを有する。参照プロファイルデータ取得手段1は、通信ネットワークNWを介して参照プロファイルデータベースDB1から、測定プロファイルデータ作成手段2で作成された測 定プロファイルデータの参照対象となる参照プロファイルデータを予め取得する。参照プロファイルデータは、複数の遺伝子転写産物を逆転写したcDNAの一部を増幅して得られるDNAフラグメントの塩基数相当値の位置と、その位置における遺伝子転写産物の転写量相当の検出量とに基づいて得られる塩基数相当値の参照範囲を第一の波形として表わし、かつ遺伝子転写産物の転写産物種情報として、第一の波形中の所定のピークと、そのピークが由来する転写産物種とを同定して記憶したデータである。
Drawing

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thum_2008-032466.gif
Research field
  • Molecular and genetic information processing
Seeds that can be deployed (In Japanese)作成された測定プロファイルデータと参照プロファイルデータとの対比や、作成された測定プロファイルデータ同士の対比を容易に行うことができ、かつ遺伝子の発現状態の解析を容易に行うことができる遺伝子発現解析方法、遺伝子発現解析装置、および遺伝子発現解析プログラムを提供する。
取得された参照プロファイルデータと、作成された測定プロファイルデータを波形として表して対比させるため、参照プロファイルデータのピークと、作成された測定プロファイルデータのピークの対応付けを容易に行うことができる。そして、対応付けができた測定プロファイルデータのうちの着目するピークについてその由来となる遺伝子を特定することにより、適切に遺伝子の発現状態を解析することができる。
Usage Use field (In Japanese)遺伝子発現解析装置、遺伝子発現解析プログラム
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, . (In Japanese)笠間 康次, 安倍 真澄, . METHOD, APPARATUS, AND PROGRAM FOR ANALYZING EXPRESSION OF GENE. P2009-193273A. Aug 27, 2009
  • G06F  19/20     

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