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SUPERCONDUCTOR, NONCONTACT MEASUREMENT METHOD FOR SUPERCONDUCTOR SURFACE RESISTIVITY, AND ITS MEASUREMENT APPARATUS

Seeds code S120007764
Posted date Jan 5, 2012
Researchers
  • (In Japanese)孫 勇
Name of technology SUPERCONDUCTOR, NONCONTACT MEASUREMENT METHOD FOR SUPERCONDUCTOR SURFACE RESISTIVITY, AND ITS MEASUREMENT APPARATUS
Technology summary (In Japanese)超伝導体50は、誘電体薄膜の一例である4フッ化エチレン樹脂膜51(例えば、厚みが1~50μm)の表面上に超伝導体薄膜の一例であるYBa2Cu3O7薄膜52(例えば、厚みが1~10μm)が形成されたシート53が複数積層されて、例えば、厚みが0.1~1mmの積層体となっている。なお、YBa2Cu3O7薄膜52は、4フッ化エチレン樹脂膜51の表面上に、例えば、スパッタリングにより形成される。この超伝導体の表面抵抗率の非接触測定方法は、両側にそれぞれ入力電極対11及び出力電極対12を備え、水平に配置された平板状の圧電体13の表面で入力電極対11及び出力電極対12の間の領域に対して隙間を設けて一定温度に保持した平板状の超伝導体を平行に配置し、入力電極対11に印加した入力電圧により発生した弾性表面波を出力電極対12に向けて移動させながら弾性表面波に伴う交流電界を圧電体13に対向する超伝導体の表面側から印加して、出力電極対12で検出した弾性表面波による出力電圧値と入力電圧中の弾性表面波の周波数に対応する入力電圧成分値との比の値を求めて超伝導体の表面抵抗率を測定する。
Drawing

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thum_2008-232617_1.gif thum_2008-232617_2.gif
Research field
  • Properties of superconductors in general
  • Superconducting materials
Seeds that can be deployed (In Japanese)超伝導体の薄膜の表面抵抗を精度よく測定するマイクロ波を用いて測定する場合、測定装置の大型化及び測定コストが増大し、共振のQ値を安定して測定すること、アンテナの設置位置の影響、マイクロ波の反射の影響等の問題も発生する。そこで、表面超伝導を利用した超伝導体並びに弾性表面波に伴って発生する交流電界を用いた、高精度で容易かつ安価な超伝導体表面抵抗率の非接触測定方法等を提供する。
超伝導体は、積層体の各超伝導体薄膜の上、下表層に表面超伝導層を形成することができ、積層体中に占める表面超伝導層の割合を高くできると共に、高温で超伝導状態を発現させることができる。交流電界は超伝導体の表面で反射されて内部に侵入しないので、出力電極対に発生する出力電圧値と入力電圧中の弾性表面波の周波数に対応する入力電圧成分値との比の値の変化から、超伝導体に印加された交流電界と超伝導体の極表層部に存在する荷電粒子又は準粒子の相互作用による交流電界の吸収の有無が判定でき、超伝導体表面抵抗率を容易に測定することができる。
Usage Use field (In Japanese)磁気浮上装置、超伝導体
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人九州工業大学, . (In Japanese)孫 勇, . SUPERCONDUCTOR, NONCONTACT MEASUREMENT METHOD FOR SUPERCONDUCTOR SURFACE RESISTIVITY, AND ITS MEASUREMENT APPARATUS. P2009-152175A. Jul 9, 2009
  • H01B  12/06     
  • C01G   1/00     
  • G01N  29/00     
  • G01R  27/02     

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