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SYSTEM AND METHOD FOR MEASUREMENT OF POSITION

Seeds code S120008127
Posted date Jan 19, 2012
Researchers
  • (In Japanese)橋本 岳
Name of technology SYSTEM AND METHOD FOR MEASUREMENT OF POSITION
Technology summary (In Japanese)位置計測システム1は、Y軸方向に位置する対象物Tの位置をステレオ視によって計測し、X軸方向に沿って並設した複数台のカメラ(第1の撮像光学系、第2の撮像光学系)21~24と、画像データの取込み、種演算処理を行うコンピュータ等の演算部11を備える。第1の撮像光学系は画像を構成する複数の最小要素のそれぞれの中心を通る第1の視線、及び第1の視線のそれぞれを中心として最小要素ごとに設定した第1の視線領域により対象物を捉え、第2の撮像光学系は同様に第2の視線領域にてにより対象物を捉える。第1の撮像光学系と第2の撮像光学系との位置関係をn(n:2以上の整数)種設定し、n種の位置関係のそれぞれで、所定の第1の視線領域と所定の第2の視線領域が重なる重複領域をn種取得し、n種の重複領域が重なる領域にて対象物の位置を算出する。これにより、n種の重複領域から、それらが重なる領域へと、対象物の真値が存在する領域が狭められるので、対象物のステレオ視による対象物位置の計測における量子化誤差を軽減できる。
Drawing

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thum_2009-135191.gif
Research field
  • Measuring methods and instruments of length, area, cross section, volume, angle
Seeds that can be deployed (In Japanese)多数の画素の配列によって受光部を構成した撮像素子を有する第1及び第2のカメラを用いて対象物のステレオ視を行う場合、第1のカメラを構成する多数の画素のそれぞれの中心を通る第1の視線領域および第2のカメラの第2の視線領域の重複領域に対象物が存在するが、領域内の位置が不明で計測誤差が発生するが、この計測における量子化誤差を低減する。
n種の重複領域が重なる領域で対象物の位置を算出することにより、対象物の真値が存在する領域が狭められるので、対象物のステレオ視による対象物位置の計測における量子化誤差を軽減できる。
Usage Use field (In Japanese)対象物位置精密計測装置、2次元平面位置計測システム、3次元空間位置計測システム
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人静岡大学, . (In Japanese)橋本 岳, . SYSTEM AND METHOD FOR MEASUREMENT OF POSITION. P2010-281684A. Dec 16, 2010
  • G01C   3/06     
  • G01B  11/00     
  • G06T   1/00     

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